特許

J-GLOBAL ID：201403032495520212

形状計測システム

発明者： 谷口 敦史 ,  渡辺 正浩 ,  笠井 啓晃 ,  針山 達雄
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (3件)： 井上 学 ,  戸田 裕二 ,  岩崎 重美
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-234543
公開番号（公開出願番号）：特開2014-115277
出願日： 2013年11月13日
公開日（公表日）： 2014年06月26日
要約：

【課題】大型の構造物を簡易な方法で高精度に測定する形状計測システムを提供する。【解決手段】形状計測システム100において、測定対象までの距離を測定光を回転させながら測定する距離センサ11と、距離センサ11の測定位置を変更する手段からなる形状計測部10と、形状計測部10を移動させる車輪201と、形状計測部10の位置を計測する位置姿勢計測センサ部300とを備え、位置姿勢計測センサ部300の基準点を原点とした座標系における、形状計測部10の原点の空間座標と回転角を測定する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

測定対象までの距離を測定光を回転させながら測定する距離センサと、前記距離センサの測定位置を変更する手段からなる形状計測部と、

IPC (4件)：

G01B 11/24 ,  G01B 11/00 ,  G01B 11/26 ,  G01S 17/89

FI (4件)：

G01B11/24 A ,  G01B11/00 A ,  G01B11/26 Z ,  G01S17/89

Fターム (46件)：

2F065AA03 ,  2F065AA04 ,  2F065AA09 ,  2F065AA20 ,  2F065AA31 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065CC11 ,  2F065CC14 ,  2F065CC35 ,  2F065DD03 ,  2F065DD04 ,  2F065DD06 ,  2F065FF01 ,  2F065FF10 ,  2F065FF12 ,  2F065FF13 ,  2F065FF65 ,  2F065GG04 ,  2F065GG23 ,  2F065HH04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL04 ,  2F065LL12 ,  2F065LL64 ,  2F065MM07 ,  2F065MM16 ,  2F065QQ21 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ42 ,  2F065RR05 ,  2F065RR08 ,  5J084AA05 ,  5J084AA13 ,  5J084AD01 ,  5J084BA03 ,  5J084BA33 ,  5J084BA34 ,  5J084BB02 ,  5J084BB11 ,  5J084BB14 ,  5J084BB21 ,  5J084CA67 ,  5J084EA04