特許

J-GLOBAL ID：201403034531269125

誘電体絶縁式のエレクトロスプレーイオン化法によって液状試料をイオン化し、次いで当該生成された試料イオンの質量スペクトルを分析するための方法

発明者： フランツケ・ヨアヒム ,  シュタルク・アン-カトリーン ,  シリング・ミヒャエル ,  ヤナゼック・ディルク ,  イェステル・ギュンター ,  ヴィルベルク・リューディガー ,  メイヤー・コルドゥラ
出願人/特許権者： ライプニッツ-インスティトゥート・フューア・アナリュティッシェ・ヴィッセンシャフテン-イーエスアーエス-アインゲトラーゲネル・フェアアイン
代理人 (4件)： 江崎 光史 ,  鍛冶澤 實 ,  篠原 淳司 ,  清田 栄章
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-501558
公開番号（公開出願番号）：特表2014-512000
出願日： 2012年03月26日
公開日（公表日）： 2014年05月19日
要約：

誘電体絶縁式のエレクトロスプレーイオン化法によって液状試料をイオン化し、次いで当該生成された試料イオンの質量スペクトルを分析するための方法であって、それぞれの液状試料が、供給路内に通流され、この供給路を包囲している壁が、開放端部から離れて配置されたその外面に、誘電体材料から成る絶縁層によって当該壁から分離された電極を有し、質量分析装置の、対電極を形成する流入口が、前記供給路の前記開放端部から間隔をあけて、イオンを生成させる自由空間を形成しながら配置されていて、当該生成されたイオンは、この流入口を通過して質量分析装置の開閉可能なトラップ内に到達し、矩形電圧が、前記試料イオンを生成するために前記電極と前記流入口との間に印加され、前記質量分析装置の前記トラップが、交互に開閉され、この質量分析装置のこのトラップによって捕獲された試料イオンが、この質量分析装置内で分析される。矩形電圧の印加の利点を維持しつつ、正の試料イオンだけ又は負の試料イオンだけが質量分析装置内に到達するように、当該方法がさらに改良されなければならない。当該課題は、正極と負極とのデューティー比が異なる、左右非相称な矩形電圧が、前記電極と前記流入口との間に印加されることによって解決される。

請求項（抜粋）：

誘電体絶縁式のエレクトロスプレーイオン化法によって液状試料をイオン化し、次いで当該生成された試料イオンの質量スペクトルを分析するための方法であって、それぞれの液状試料が、供給路内に通流され、この供給路を包囲している壁が、開放端部から離れて配置されたその外面に、誘電体材料から成る絶縁層によって当該壁から分離された電極を有し、質量分析装置の、対電極を形成する流入口が、前記供給路の前記開放端部から間隔をあけて、イオンを生成させる自由空間を形成しながら配置されていて、当該生成されたイオンは、この流入口を通過して質量分析装置の開閉可能なトラップ内に到達し、矩形電圧が、前記試料イオンを生成するために前記電極と前記流入口との間に印加され、前記質量分析装置の前記トラップが、交互に開閉され、この質量分析装置のこのトラップによって捕獲された試料イオンが、この質量分析装置内で分析される当該方法において、 正極と負極とのデューティー比が異なる、左右非相称な矩形電圧が、前記電極と前記流入口との間に印加されることを特徴とする方法。

IPC (2件)：

G01N 27/62 ,  H01J 49/04

FI (3件)：

G01N27/62 G ,  G01N27/62 V ,  H01J49/04

Fターム (8件)：

2G041CA01 ,  2G041DA05 ,  2G041EA03 ,  2G041GA08 ,  2G041GA13 ,  2G041GA20 ,  5C038EE02 ,  5C038EF04

引用特許：

出願人引用 (1件)

• エレクトロスプレー・イオン源
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-339617   出願人：日本電子株式会社

引用文献：

出願人引用 (2件)

• 「探針エレクトロスプレーの開発と応用」
• "Characterization of dielectric barrier electrospray ionization for mass spectrometric detection"