特許

J-GLOBAL ID：201403034631173494

太陽電池評価装置および太陽電池評価方法

発明者： 竹上 克哉 ,  河野 元宏 ,  北嶋 敏和 ,  谷岡 千丈
出願人/特許権者： 大日本スクリーン製造株式会社
代理人 (3件)： 松阪 正弘 ,  田中 勉 ,  井田 正道
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-002195
公開番号（公開出願番号）：特開2014-135370
出願日： 2013年01月10日
公開日（公表日）： 2014年07月24日
要約：

【課題】被測定部からの光電流値およびインピーダンス値を精度良く求める。【解決手段】太陽電池評価装置1では、太陽電池9の被測定部93に局所的にプローブ光が照射される。被測定部93に光が照射された際に生じる電流は、被測定部93近傍にて裏面電極915に接触する2本のプローブ21を介して可変抵抗部66へと導かれ、可変抵抗部66における電圧値が取得される。そして、演算部64により、可変抵抗部66の複数の検出抵抗値に対応して取得された複数の測定電圧値に基づいて、等価回路モデル631における太陽電池9のインピーダンス値および被測定部93からの光電流値が求められる。演算部64では、測定電圧値の逆数を検出抵抗値の逆数の1次式にて表現し、1次項の係数の逆数を光電流値、1次項の係数を定数項により除算した値をインピーダンス値として求める。これにより、インピーダンス値および光電流値を精度良く求めることができる。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

太陽電池の品質を評価する太陽電池評価装置であって、 太陽電池の被測定部に局所的に光を照射する光照射部と、 抵抗値が変更可能な可変抵抗部を有し、前記被測定部に光が照射された際に生じる電流を前記可変抵抗部へと導く測定回路と、 前記可変抵抗部における電圧値を取得する電圧測定部と、 前記可変抵抗部の複数の検出抵抗値にそれぞれ対応して前記電圧測定部により取得された複数の測定電圧値に基づいて、前記被測定部に光が照射された際の前記太陽電池および前記測定回路の等価回路モデルにおける前記太陽電池のインピーダンス値および前記被測定部からの光電流値を求める演算部と、 を備え、 前記演算部が、測定電圧値の逆数を検出抵抗値の逆数の1次式にて表現した場合の1次項の係数の逆数を前記光電流値として求め、前記1次項の係数を定数項により除算した値を前記インピーダンス値として求めることを特徴とする太陽電池評価装置。

IPC (1件)：

H01L 31/04

FI (1件)：

H01L31/04 K

Fターム (1件)：

5F151KA09