特許
J-GLOBAL ID：201403034704344250
距離測定装置および距離測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
ポレール特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-019953
公開番号（公開出願番号）：特開2014-102258
出願日： 2014年02月05日
公開日（公表日）： 2014年06月05日
要約：
【課題】光コムを用いた距離測定装置において、光量不足、多数の自己ビートから必要なビートのみを信号雑音比(SN比)よく抽出することが困難であるという課題を解決し、反射率が低い表面または表面が散乱面である10m程度遠方の被測定物までの絶対距離を0.1mm以上の精度で光学的で非接触な手法により簡便に測定できるようにする。【解決手段】対象物までの距離を測定する距離測定装置において、光源と対象物で反射または散乱された複数のCWレーザーの間のビート信号のビート信号の位相と,光源と対象物へ照射する前の複数のCWレーザーによるビート信号のビート信号の位相を比較することによって対象物までの距離を測定するようにした。【選択図】図9
請求項（抜粋）：
対象物までの距離を測定する距離測定装置であって、
一定周波数間隔の光を発振する光源と、
前記光源の周波数に対して一定の周波数差となるように制御された複数のCWレーザーと、
前記複数のCWレーザーを前記対象物へ照射する手段と、
前記複数のCWレーザーを対象物表面上で空間的に走査する手段と、
前記光源と前記対象物で反射または散乱された前記複数のCWレーザーを受光しビートを観測する手段と、
前記光源と前記対象物で反射または散乱された前記複数のCWレーザーによるビート信号のビート信号を生成する手段と、
前記光源と前記対象物で反射または散乱された前記複数のCWレーザーによるビート信号のビート信号の位相を抽出する手段と、
前記光源と前記対象物へ照射する前の前記複数のCWレーザーによるビート信号のビート信号の位相を抽出する手段を備え、
前記光源と前記対象物で反射または散乱された前記複数のCWレーザーの間のビート信号のビート信号の位相と,前記光源と前記対象物へ照射する前の前記複数のCWレーザーによるビート信号のビート信号の位相を比較することによって前記対象物までの距離を測定することを特徴とする距離測定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (28件)：
5J084AA05
, 5J084AD08
, 5J084BA03
, 5J084BA05
, 5J084BA08
, 5J084BA21
, 5J084BA22
, 5J084BA43
, 5J084BA45
, 5J084BA51
, 5J084BB14
, 5J084BB20
, 5J084BB26
, 5J084BB28
, 5J084BB31
, 5J084CA04
, 5J084CA08
, 5J084CA24
, 5J084CA27
, 5J084CA33
, 5J084CA42
, 5J084CA54
, 5J084DA01
, 5J084DA08
, 5J084DA09
, 5J084EA01
, 5J084EA07
, 5J084FA01
