特許

J-GLOBAL ID：201403036970204580

校正処理実行判定装置、画像形成装置及びプログラム

発明者： 山田 紀一
出願人/特許権者： 富士ゼロックス株式会社
代理人 (1件)： 守山 辰雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-153467
公開番号（公開出願番号）：特開2014-016456
出願日： 2012年07月09日
公開日（公表日）： 2014年01月30日
要約：

【課題】画像形成装置に対する校正処理の実行タイミングの適正化を図ることで、画像形成装置の生産性の低下を防ぎつつ高い画質を維持できるようにする。【解決手段】画像形成パラメータ収集部1が、画像形成パラメータの値を予め定められたタイミングで収集して画像形成パラメータ時系列データ蓄積部2に蓄積し、画像形成パラメータ間関係性指標算出部3が、画像形成パラメータ時系列データ蓄積部2に蓄積された画像形成パラメータの値に基づき、画像形成プロセスを構成するモジュール単位でグループ分けした画像形成パラメータについて、3以上のモジュール間における画像形成パラメータの関係性を示す関係性指標を時系列に算出し、キャリブレーション実行判定部4が、画像形成パラメータ間関係性指標算出部3により時系列に算出された関係性指標に基づき、キャリブレーションの実行が必要か否かを判定する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

複数のモジュールを有する画像形成プロセスを制御する複数のパラメータ値を収集する収集手段と、 3以上のモジュールのパラメータ値の組み合わせについて、モジュール間におけるパラメータ値の時間変化の相関を表す指標値を算出する算出手段と、 前記算出手段により算出された指標値が予め定められた閾値を下回った場合に、画像形成プロセスに係るパラメータ値の校正処理を実行する必要があると判定する判定手段と、 を備えたことを特徴とする校正処理実行判定装置。

IPC (3件)：

G03G 15/00 ,  B41J 29/38 ,  H04N 1/00

FI (3件)：

G03G15/00 303 ,  B41J29/38 Z ,  H04N1/00 C

Fターム (36件)：

2C061AQ06 ,  2C061AR01 ,  2C061HJ10 ,  2C061HK11 ,  2C061HN08 ,  2C061HN15 ,  2H270LA02 ,  2H270LA03 ,  2H270LA07 ,  2H270LA12 ,  2H270LA14 ,  2H270LA24 ,  2H270LA25 ,  2H270LA28 ,  2H270LA97 ,  2H270LD08 ,  2H270MA01 ,  2H270MA08 ,  2H270MA13 ,  2H270MB11 ,  2H270MB28 ,  2H270MB29 ,  2H270MB30 ,  2H270MB35 ,  2H270MB43 ,  2H270MB55 ,  2H270ZC03 ,  5C062AA02 ,  5C062AA05 ,  5C062AB21 ,  5C062AB22 ,  5C062AB33 ,  5C062AB42 ,  5C062AC22 ,  5C062AC55 ,  5C062AF15

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 異常発生予測方法、状態判定装置及び画像形成装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-184929   出願人：株式会社リコー