特許

J-GLOBAL ID：201403038911611549

幾何偏差測定方法、及び、幾何偏差計測装置

発明者： 清水 伸二 ,  山本 洋輝
出願人/特許権者： 学校法人上智学院
代理人 (1件)： 特許業務法人クシブチ国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-090318
公開番号（公開出願番号）：特開2014-215079
出願日： 2013年04月23日
公開日（公表日）： 2014年11月17日
要約：

【課題】効率良く、正確に幾何偏差を同定することができる幾何偏差測定方法、及び、幾何偏差計測装置を提供する。【解決手段】複数の直進軸X,Y,Zと、回転軸A,Cとを有する工作機械100の幾何偏差測定方法において、主軸2又はテーブル3のいずれか一方に設けたプローブ10を、主軸2又はテーブル3のいずれか他方に設けたターゲット球15に対向させ、回転軸A,Cを回転し、複数の直進軸X,Y,Zを追従させながら、ターゲット球15の位置を連続的に計測し、ターゲット球15の位置に関する情報に基づいて、直進軸X,Y,Z、回転軸A,Cに関連する幾何偏差を同定する。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

複数の直進軸と、回転軸とを有する工作機械の幾何偏差測定方法において、 主軸又はテーブルのいずれか一方に設けたプローブを、主軸又はテーブルのいずれか他方に設けたターゲットに対向させ、前記回転軸を回転し、前記複数の直進軸を追従させながら、前記ターゲットの位置を連続的に計測し、前記位置に関する情報に基づいて、前記直進軸、前記回転軸に関連する幾何偏差を同定することを特徴とする幾何偏差測定方法。

IPC (2件)：

G01B 21/00 ,  B23Q 17/00

FI (2件)：

G01B21/00 E ,  B23Q17/00 A

Fターム (12件)：

2F069AA04 ,  2F069AA13 ,  2F069BB01 ,  2F069EE04 ,  2F069EE23 ,  2F069FF07 ,  2F069JJ08 ,  2F069JJ10 ,  2F069NN00 ,  2F069NN05 ,  2F069NN17 ,  3C029EE02