特許
J-GLOBAL ID：201403039819285364

印刷装置およびパターン測定方法

発明者：
木村 昌樹

木村 昌樹 について


出願人/特許権者：
セイコーエプソン株式会社

セイコーエプソン株式会社 について


代理人 (3件)： 上柳 雅誉 ,  宮坂 一彦 ,  渡辺 和昭
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-207894
公開番号（公開出願番号）：特開2014-061645
出願日： 2012年09月21日
公開日（公表日）： 2014年04月10日
要約：
【課題】位置合わせ用パターンが不要でテストパターンの濃度を精度良く計測する印刷装置を提供する。【解決手段】プリンター1は、走査方向に濃度が変化するパターンを用紙に印刷するヘッドユニット40と、パターンの濃度を走査方向に沿って測定し、パターンの濃度を走査方向と交差する搬送方向に沿って測定する光学センサー51と、搬送方向の測定結果により、パターンの位置を特定し、位置に基づいて走査方向の測定を光学センサー51に行わせるコントローラーと10とを備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
第1の方向に濃度が変化するパターンを媒体に印刷する印刷手段と、 前記パターンの濃度を前記第1の方向に沿って測定し、前記パターンの濃度を前記第1の方向と交差する第2の方向に沿って測定する測定手段と、 前記第2の方向の測定結果により、前記パターンの位置を特定し、前記位置に基づいて前記第1の方向の測定を前記測定手段に行わせるコントローラーと、を備えることを特徴とする印刷装置。
IPC (3件)：
B41J 29/38 ,  B41J 29/46 ,  B41J 2/01
FI (3件)：
B41J29/38 Z ,  B41J29/46 C ,  B41J3/04 101Z
Fターム (14件)：
2C056EA06 ,  2C056EB13 ,  2C056EB27 ,  2C056EB37 ,  2C056EB42 ,  2C056EC75 ,  2C056EE02 ,  2C056FA10 ,  2C061HJ06 ,  2C061HK05 ,  2C061HK11 ,  2C061KK18 ,  2C061KK25 ,  2C061KK28
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (1件)

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