特許

J-GLOBAL ID：201403040194301020

単一発光粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法及び光分析用コンピュータプログラム

発明者： 中田 秀孝 ,  田邊 哲也
出願人/特許権者： オリンパス株式会社
代理人 (2件)： 明石 昌毅 ,  明石 憲一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-017253
公開番号（公開出願番号）：特開2014-149195
出願日： 2013年01月31日
公開日（公表日）： 2014年08月21日
要約：

【課題】 共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡による光計測を用いた走査分子計数法に於いて、試料容器の壁の表面上に付着した汚染物質又は異物の光の信号の少なくとも一部を排除する手法を提供すること。【解決手段】 本発明による試料溶液中の発光粒子の光を検出する光分析技術は、試料溶液内に於いて顕微鏡の光検出領域の位置を移動させながら検出された光検出領域からの光の時系列光強度データを生成し、そのデータに於いて、発光粒子の各々からの光を表す信号の特徴を有する信号を個別に検出し、個別に検出された信号が複数個検出されている場合に、光検出領域の軌跡上に於ける発生位置の間隔が所定の範囲内にある二つの個別に検出された信号をノイズ信号であると判定することを特徴とする。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡の光学系を用いて試料溶液中にて分散しランダムに運動する発光粒子からの光を検出する光分析装置であって、 前記試料溶液内に於ける前記光学系の光検出領域の位置を移動する光検出領域移動部と、 前記光検出領域からの光を検出する光検出部と、 前記試料溶液内に於いて前記光検出領域の位置を移動させながら前記光検出部にて前記検出された前記光検出領域からの光の時系列の光強度データを生成し、前記時系列の光強度データに於いて前記発光粒子の各々からの光を表す信号の特徴を有する信号を個別に検出する信号処理部とを含み、 前記信号処理部に於いて、前記個別に検出された信号が複数個検出されている場合に、前記光検出領域の軌跡上に於ける発生位置の間隔が所定の範囲内にある二つの前記個別に検出された信号がノイズ信号であると判定されることを特徴とする装置。

IPC (1件)：

G01N 21/64

FI (2件)：

G01N21/64 E ,  G01N21/64 F

Fターム (34件)：

2G043BA16 ,  2G043CA04 ,  2G043EA01 ,  2G043EA02 ,  2G043EA14 ,  2G043FA01 ,  2G043GA07 ,  2G043GB01 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA05 ,  2G043HA07 ,  2G043HA09 ,  2G043KA02 ,  2G043KA05 ,  2G043LA01 ,  2G043MA01 ,  2G043MA16 ,  2G043NA01 ,  2G043NA06 ,  2G054AA06 ,  2G054CA22 ,  2G054CA23 ,  2G054CA25 ,  2G054CE02 ,  2G054EA01 ,  2G054EA02 ,  2G054EA03 ,  2G054FA16 ,  2G054FA17 ,  2G054FA20 ,  2G054GA05 ,  2G054JA01 ,  2G054JA05