特許

J-GLOBAL ID：201403041535807268

液晶装置、液晶装置の検査方法、及び電子機器

発明者： 横田 智己
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (3件)： 上柳 雅誉 ,  宮坂 一彦 ,  渡辺 和昭
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-210457
公開番号（公開出願番号）：特開2014-066780
出願日： 2012年09月25日
公開日（公表日）： 2014年04月17日
要約：

【課題】表示に影響を及ぼすことがなく、周辺電極の断線状態を検査することができる液晶装置、液晶装置の検査方法、及び電子機器を提供する。【解決手段】素子基板は、表示領域に設けられた画素電極と、平面視で表示領域とシール材との間に設けられた第1周辺電極40aと、平面視で第1周辺電極40aとシール材との間に設けられた第2周辺電極40bと、を含み、対向基板は、少なくとも画素電極、第1周辺電極40a、及び第2周辺電極40bと対向するように設けられた対向電極と、対向電極の液晶層と反対側で、平面視で表示領域とシール材との間に配置され、平面視で第1周辺電極40aと第2周辺電極40bとの間の領域40cの少なくとも一部の領域と重なる領域に開口部19を有する遮光膜18と、を備える。【選択図】図7

請求項（抜粋）：

第1基板と、 前記第1基板に対向配置された第2基板と、 前記第1基板と前記第2基板とを貼り合わせるシール材と、 前記第1基板と前記第2基板とにより挟持された液晶層と、 を含み、 前記第1基板は、表示領域に設けられた画素電極と、平面視で前記表示領域と前記シール材との間に設けられた第1周辺電極と、平面視で前記第1周辺電極と隣り合う第2周辺電極と、を含み、 前記第2基板は、少なくとも前記画素電極、前記第1周辺電極、及び前記第2周辺電極と対向するように設けられた対向電極と、前記対向電極の前記液晶層と反対側で、平面視で前記表示領域と前記シール材との間に配置され、平面視で前記第1周辺電極と前記第2周辺電極との間の少なくとも一部の領域と重なる領域に開口部を有する遮光膜と、 を備えることを特徴とする液晶装置。

IPC (2件)：

G02F 1/134 ,  G02F 1/13

FI (2件)：

G02F1/1343 ,  G02F1/13 101

Fターム (23件)：

2H088FA11 ,  2H088HA02 ,  2H088HA08 ,  2H088HA14 ,  2H088MA04 ,  2H092GA29 ,  2H092GA61 ,  2H092JA25 ,  2H092JA46 ,  2H092JB52 ,  2H092JB54 ,  2H092JB69 ,  2H092JB77 ,  2H092NA30 ,  2H092PA04 ,  2H092PA09 ,  2H191FA15Y ,  2H191FC42 ,  2H191GA04 ,  2H191GA15 ,  2H191GA19 ,  2H191LA21 ,  2H191LA40