特許

J-GLOBAL ID：201403041586820730

微粒子分析システム、試料調製装置及び試料調製治具

発明者： 種池 康仁 ,  工藤 聡 ,  折井 孝彰 ,  岡田 芳樹
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所 ,  学校法人 関西大学
代理人 (1件)： 特許業務法人京都国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-259527
公開番号（公開出願番号）：特開2014-106132
出願日： 2012年11月28日
公開日（公表日）： 2014年06月09日
要約：

【課題】サンプリングしたガスから捕集した微粒子を、微粒子のままで容易に分析装置に直接導入するための試料調製装置、及び該試料調製装置において用いられる試料調製治具、並びにこれらと分析装置とを備えた微粒子分析システムを提供する。【解決手段】サンプリングしたガスに含まれる微粒子の成分を分析するために用いられる、試料調製装置5と試料調製治具9と質量分析装置10とを備えた微粒子分析システムにおいて、試料調製装置5の治具装着部7に試料調製治具9を装着して試料調製治具9の先端部に形成された試料保持面12上に微粒子を堆積させる。また、試料保持面12上に微粒子を堆積させた試料調製治具9を質量分析装置10の試料導入部11に装着して捕集した微粒子を質量分析装置11に導入する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

ガス中の分析対象となる微粒子を分析装置で分析するために捕集する試料調製装置であって、 a) 前記分析装置の試料導入部に装着可能であり、その先端に試料保持面が形成された試料調製治具が着脱可能に装着される治具装着部と、 b) 前記ガスを前記試料保持面に吹き付ける吹き付け手段であって、その出口が、前記治具装着部に装着された試料調製治具の試料保持面に対向して位置する吹き付け手段と、 を備えることを特徴とする試料調製装置。

IPC (3件)：

G01N 1/22 ,  G01N 27/60 ,  G01N 27/62

FI (4件)：

G01N1/22 L ,  G01N27/60 C ,  G01N27/62 V ,  G01N27/62 F

Fターム (22件)：

2G041CA01 ,  2G041CA04 ,  2G041DA13 ,  2G041EA05 ,  2G041FA06 ,  2G041GA03 ,  2G041GA17 ,  2G041HA03 ,  2G052AA02 ,  2G052AC02 ,  2G052AC20 ,  2G052AC25 ,  2G052AD04 ,  2G052AD24 ,  2G052AD42 ,  2G052BA05 ,  2G052BA21 ,  2G052CA04 ,  2G052DA22 ,  2G052EB11 ,  2G052GA24 ,  2G052JA05