特許
J-GLOBAL ID：201403044902550472
信号処理装置、放射線検出装置及び蛍光X線分析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
河野 登夫
, 河野 英仁
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-209893
公開番号（公開出願番号）：特開2014-066523
出願日： 2012年09月24日
公開日（公表日）： 2014年04月17日
要約：
【課題】オフセット値の変更が不感時間に及ぼす影響を排除して、不感時間を短縮することができる信号処理装置、放射線検出装置及び蛍光X線分析装置を提供する。【解決手段】積分部11は、X線検出器(放射線検出器)2からの信号を積分して、階段状に信号値が上昇する信号を生成する。オフセット部12は、積分部11からの信号を二つにして、夫々の信号にオフセット値を加算する。オフセット制御部14は、二つの信号で互いに異なったタイミングで、信号値が所定の上限値以下になるようにオフセット値を変更する。波高分析部16は、二つの信号の内でオフセット値を変更するタイミングになっていない信号を分析対象とする。オフセット値の変更による信号値の変化を避けて信号を分析することが可能となり、オフセット値の変更が不感時間に影響しなくなる。従って、従来に比べて不感時間を短くすることが可能となる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
複数のパルスを含む信号を積分することにより、階段状に信号値が上昇していく信号を生成し、一定値に信号値が達した場合に信号値を予め定められた初期値に戻す積分部と、
該積分部が生成した信号に所定のオフセット値を加算するオフセット部と、該オフセット部がオフセット値を加算した後の信号を分析して、信号値が階段状に上昇する高さに対応する前記パルスの積分値及び前記パルスの数の関係を表すスペクトルを生成する波高分析部とを備える信号処理装置において、
前記オフセット部は、前記積分部が生成した信号を並列な複数の信号にして夫々にオフセット値を加算するように構成してあり、
前記波高分析部は、
前記積分部が信号値を初期値に戻した場合に、前記オフセット部でのオフセット値を所定の値に定める手段と、
前記複数の信号間で異なったタイミングで、オフセット値を変更する手段とを有し、
前記オフセット部がオフセット値を加算した複数の信号の内、一つの信号を分析し、前記一つの信号のオフセット値が変更された場合に分析の対象を他の信号に替えるように構成してあること
を特徴とする信号処理装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (5件)：
2G001AA01
, 2G001BA04
, 2G001CA01
, 2G001FA19
, 2G001GA03
