特許

J-GLOBAL ID：201403046846449880

物質の状態の測定、検出方法及び検出装置

発明者： 西岡 将輝
出願人/特許権者： 独立行政法人産業技術総合研究所
代理人 (2件)： 飯田 敏三 ,  宮前 尚祐
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2012061944
公開番号（公開出願番号）：WO2012-153793
出願日： 2012年05月10日
公開日（公表日）： 2012年11月15日
要約：

【課題】化学反応炉や反応装置内の物質の状態を、専用のセンサーを用いることなく非接触で簡便かつ安全に検出する方法を提供する。【解決手段】マイクロ波を照射することにより、被照射物質の温度、相状態、組成、異物や気泡の有無、それらの変化又は化学変化の進行を測定、検出する方法であって、前記物質にマイクロ波を照射し、マイクロ波の照射前後の変化から、被照射物質の状態を測定、検出する方法。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

マイクロ波を照射することにより、被照射物質の温度、相状態、組成、異物や気泡の有無、それらの変化又は化学変化の進行を測定、検出する方法であって、前記物質にマイクロ波を照射し、マイクロ波の照射前後の変化から、被照射物質の状態を測定、検出する方法。

IPC (3件)：

G01N 22/00 ,  G01N 22/02 ,  H05B 6/62

FI (7件)：

G01N22/00 M ,  G01N22/00 U ,  G01N22/00 S ,  G01N22/00 W ,  G01N22/02 B ,  G01N22/00 Y ,  H05B6/62

Fターム (1件)：

3K090AA20