特許

J-GLOBAL ID：201403046866885899

放射線画撮影制御装置、放射線動画撮影システム、放射線画撮影装置の欠陥判定方法、及び放射線画撮影制御プログラム

発明者： 田島 崇史
出願人/特許権者： 富士フイルム株式会社
代理人 (3件)： 中島 淳 ,  加藤 和詳 ,  福田 浩志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-217836
公開番号（公開出願番号）：特開2014-068857
出願日： 2012年09月28日
公開日（公表日）： 2014年04月21日
要約：

【課題】放射線照射量検出用画素の欠陥を容易に検出可能にすることを目的とする。【解決手段】線量に対する放射線照射量検出用画素の出力値が、正常な場合には線形特性を有するが、欠陥の影響で線量に対して、予め定めた高線量の領域や予め定めた低線量の領域で線形性を保たなくなる場合があるので、この線形性を利用して、放射線照射量検出用画素の欠陥を判定する。すなわち、予め定めた高線量及び低線量の少なくとも一方の線量における放射線照射量検出用画素の画素値と、予め定めた正常値とに基づいて、放射線照射量検出用画素の欠陥を検出する。【選択図】図9

請求項（抜粋）：

放射線の照射量を検出するための放射線照射量検出用画素と、 欠陥が発生しているときの出力が非線形になる、実験的に求まる予め定めた高線量及び低線量の少なくとも一方の線量で撮影したときの前記放射線照射量検出用画素の画素値と、予め定めた正常値とに基づいて、前記放射線照射量検出用画素の欠陥を検出する検出手段と、 を備えた放射線画像撮影装置。

IPC (4件)：

A61B 6/00 ,  H04N 5/32 ,  H04N 5/367 ,  H04N 5/374

FI (6件)：

A61B6/00 350M ,  A61B6/00 300S ,  A61B6/00 300Q ,  H04N5/32 ,  H04N5/335 670 ,  H04N5/335 740

Fターム (16件)：

4C093AA01 ,  4C093CA50 ,  4C093EB12 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093FA18 ,  4C093FD09 ,  4C093FD11 ,  4C093FG05 ,  4C093FH06 ,  5C024AX11 ,  5C024AX16 ,  5C024CX21 ,  5C024CX22 ,  5C024GY31 ,  5C024HX29