特許
J-GLOBAL ID：201403047632759250
最小のテストデータ生成装置及び方法及びプログラム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
伊東 忠重
, 伊東 忠彦
, 石原 隆治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-199321
公開番号（公開出願番号）：特開2014-056304
出願日： 2012年09月11日
公開日（公表日）： 2014年03月27日
要約：
【課題】 テスト実施時のDBの初期状態の入れ替え回数を削減する。【解決手段】 本発明は、設計情報からテストケースを抽出し、同じDB初期状態を共有可能なテストケースを、同じグループに属するテストケースの各SELECT文が抽出するレコードに重複がないようにグルーピングする。テストケースグループを取得し、DBの各テーブル毎に、該テストグループに含まれるテストケースのDBテーブル変数の参照クエリ群へ、DBテーブルにアクセスする各SELECT文のWHERE句条件に一致するレコードが最大限重複するようにレコード件数を設定し、各参照クエリにヒットするレコードをどの位置に配置するか(DBレコード変数)を決定する。DBレコード変数からテストケースグループの制約式を任意の解法を用いて解き、テストケース毎の入力値と、DB初期状態を出力する。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
データベース(DB)への参照を行う各テストケースに対し、DBテーブルのレコード件数が最小になるようにDB初期状態を生成する最小のテストケース生成装置であって、
入力された設計情報からテストケースを抽出し、テストケース記憶手段に格納するテストケース抽出手段と、
前記テストケース記憶手段から前記テストケースを読み出し、同じDB初期状態を共有可能なテストケースを、同じグループに属するテストケースの各SELECT文が抽出するレコードに重複がないようにテストケースグループとしてグルーピングし、テストケースグループ集合記憶手段に格納するテストケースグルーピング手段と、
前記テストケースグループ集合記憶手段から前記テストケースグループを読み出し、該テストケースグループの各テストケースの入力変数の制約式を生成し、該テストケースが含まれるテストケースグループ集合記憶手段の制約集合に格納する入力変数制約式生成手段と、
前記テストケースグループ集合記憶手段から前記テストケースグループを取得し、該テストグループに含まれるテストケースのDBテーブル変数を抽出し、DBテーブルにアクセスする各SELECT文のWHERE句条件に一致するレコードが最大限重複するようにレコード件数を設定し、該DBテーブル変数の参照クエリ群へSELECTクエリを追加する処理を、該レコード件数分繰り返し、該テストケースグループ集合記憶手段の該DBレコード変数の参照クエリ群に追加するレコード配置決定手段と、
前記テストケースグループ集合記憶手段の前記DBレコード変数について、一意性を保証する制約式を生成し、前記テストケースグループ集合記憶手段に格納するDB変換制約式生成手段と、
前記テストケースグループ集合記憶手段に格納された前記制約式を任意の解法を用いて解き、テストケース毎の入力値と、該テストケースを共有するDB初期状態をテストデータとして出力する制約式解法手段と、
を有することを特徴とする最小のテストデータ生成装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (3件)：
5B042GB03
, 5B042HH17
, 5B042NN37
