特許
J-GLOBAL ID:201403051450850623
高分子材料のエネルギーロス、耐チッピング性能及び耐摩耗性能を評価する方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人 安富国際特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-255589
公開番号(公開出願番号):特開2014-102210
出願日: 2012年11月21日
公開日(公表日): 2014年06月05日
要約:
【課題】測定精度に優れ、かつ各試料の性能差も充分に評価可能な高分子材料のエネルギーロスを評価する方法、測定精度に優れ、かつ短時間、低コストで評価可能な高分子材料の耐チッピング性能を評価する方法、及び、測定精度に優れ、かつ各試料の性能差も充分に評価可能な高分子材料の耐摩耗性能を評価する方法を提供する。【解決手段】X線又は中性子線を高分子材料に照射し、X線散乱測定又は中性子散乱測定を実施することにより、高分子材料のエネルギーロス、耐チッピング性能、及び耐摩耗性能を評価する方法に関する。【選択図】なし
請求項(抜粋):
X線又は中性子線を高分子材料に照射し、X線散乱測定又は中性子散乱測定を実施することにより、高分子材料のエネルギーロスを評価する方法。
IPC (4件):
G01N 23/201
, G01N 23/202
, G01M 17/02
, C08J 3/28
FI (4件):
G01N23/201
, G01N23/202
, G01M17/02 B
, C08J3/28
Fターム (18件):
2G001AA01
, 2G001AA04
, 2G001BA14
, 2G001CA01
, 2G001CA04
, 2G001DA09
, 2G001KA07
, 2G001KA20
, 2G001LA05
, 2G001NA03
, 4F070AA05
, 4F070AA06
, 4F070AA07
, 4F070AA08
, 4F070AA09
, 4F070HA01
, 4F070HA05
, 4F070HB15
引用特許:
引用文献:
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