特許
J-GLOBAL ID:201403052034094514

表面粗さ計測装置及び計測方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 一色国際特許業務法人
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-145567
公開番号(公開出願番号):特開2014-010001
出願日: 2012年06月28日
公開日(公表日): 2014年01月20日
要約:
【課題】 コンクリート構造物の表面粗さを容易に計測することができるコンパクトな装置を提供する。【解決手段】 コンクリート構造物30の表面粗さを計測する表面粗さ計測装置1であって、前記コンクリート構造物30の表面までの距離を計測する距離センサ20と、該距離センサ20を水平方向に移動させるリニアアクチュエータ10と、前記距離センサ20及び前記リニアアクチュエータ10を円周方向に移動させるロータリーアクチュエータ3と、前記距離センサ20、前記リニアアクチュエータ10、及び前記ロータリーアクチュエータ3を制御する制御手段25とを備える。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
コンクリート構造物の表面粗さを計測する表面粗さ計測装置であって、 前記コンクリート構造物の表面までの距離を計測する距離センサと、該距離センサを水平方向に移動させるリニアアクチュエータと、前記距離センサ及び前記リニアアクチュエータを円周方向に移動させるロータリーアクチュエータと、前記距離センサ、前記リニアアクチュエータ、及び前記ロータリーアクチュエータを制御する制御手段とを備えていることを特徴とする表面粗さ計測装置。
IPC (3件):
G01B 11/30 ,  E04G 21/02 ,  G01B 21/30
FI (3件):
G01B11/30 102 ,  E04G21/02 103Z ,  G01B21/30 102
Fターム (25件):
2E172AA05 ,  2E172DD00 ,  2E172HA03 ,  2F065AA06 ,  2F065AA50 ,  2F065CC14 ,  2F065DD02 ,  2F065DD06 ,  2F065GG04 ,  2F065HH13 ,  2F065JJ09 ,  2F065KK01 ,  2F065MM07 ,  2F065MM08 ,  2F065PP22 ,  2F069AA02 ,  2F069AA43 ,  2F069AA57 ,  2F069BB40 ,  2F069DD27 ,  2F069GG01 ,  2F069GG07 ,  2F069GG09 ,  2F069GG62 ,  2F069JJ04
引用特許:
審査官引用 (10件)
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