特許
J-GLOBAL ID：201403052777150559
太陽電池の評価方法及び評価装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
志賀 正武
, 鈴木 慎吾
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-179817
公開番号（公開出願番号）：特開2014-038921
出願日： 2012年08月14日
公開日（公表日）： 2014年02月27日
要約：
【課題】光照射による基板表面温度上昇を抑え、短時間で簡便に、かつ確実に電池特性の測定が可能な、太陽電池の評価方法を提供する。【解決手段】本発明は、基板の一面に、少なくとも第一電極層、発電層、第二電極層を順に重ねた光電変換体が配されており、該光電変換体がスクライブ線によって所定のサイズごとに電気的に区画されてなる太陽電池の評価方法であって、基板の一端からn番目(nは自然数)のスクライブ線と(n+1)番目のスクライブ線により区画された領域において、評価対象とする所定領域をその周辺領域から電気的に絶縁する工程Aと、基板のうち所定領域を含む領域に対して、気体を用い非接触で該所定領域を所望の温度に保ちつつ、該所定領域を含む領域に光を照射する工程Bと、工程Bにより、所望の温度に保持され、かつ、光照射された状態にある所定領域において、電流電圧特性を測定する工程Cと、を少なくとも有する。【選択図】図7
請求項（抜粋）：
基板の一面に、少なくとも第一電極層、発電層、第二電極層を順に重ねた光電変換体が配されており、該光電変換体がスクライブ線によって所定のサイズごとに電気的に区画されてなる太陽電池の評価方法であって、
前記基板の一端からn番目(nは自然数)の前記スクライブ線と(n+1)番目の前記スクライブ線により区画された領域において、評価対象とする所定領域をその(=該所定領域の)周辺領域から電気的に絶縁する工程Aと、
前記基板のうち、前記所定領域を含む領域に対して、気体を用い非接触で該所定領域を所望の温度に保ちつつ、該所定領域を含む領域に光を照射する工程Bと、
前記工程Bにより、所望の温度に保持され、かつ、光照射された状態にある所定領域において、電流電圧特性を測定する工程C と、
を少なくとも有することを特徴とする太陽電池の評価方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H01L31/04 K
, G01R31/26 F
2G003AA06
, 2G003AD04
, 2G003AH04
, 2G003AH08
, 5F151AA05
, 5F151DA04
, 5F151EA03
, 5F151EA16
, 5F151FA02
, 5F151FA06
, 5F151GA03
, 5F151KA09
