特許
J-GLOBAL ID：201403052867560462
密閉型開閉装置の真空度劣化検出装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
竹中 岑生
, 大岩 増雄
, 児玉 俊英
, 村上 啓吾
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-107736
公開番号（公開出願番号）：特開2014-142996
出願日： 2011年05月13日
公開日（公表日）： 2014年08月07日
要約：
【課題】真空容器内で放電が発生しない高圧力下においても、真空容器内の真空度が劣化したことを検知できる密閉型開閉装置の真空度劣化検出装置を提供する。【解決手段】内部に開閉部が収容された真空容器2の周りを包囲するように設けられ、上記真空容器との間に絶縁性ガスが封入された密閉容器1を有する密閉型開閉装置の真空度劣化検出装置8であって、上記密閉容器に設置され該密閉容器内の温度を検知する温度センサ及び圧力を検知する圧力センサの少なくとも一つのセンサ装置9と、このセンサ装置の検知信号を演算処理することによって上記真空容器の真空の劣化を判定する判定手段を有する信号処理部10とを備えたものである。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
内部に開閉部が収容された真空容器の周りを包囲するように設けられ、上記真空容器との間に絶縁性ガスが封入された密閉容器を有する密閉型開閉装置の真空度劣化検出装置であって、上記密閉容器に設置され該密閉容器内の温度を検知する温度センサ及び圧力を検知する圧力センサの少なくとも一つのセンサ装置と、このセンサ装置の検知信号を演算処理することによって上記真空容器の真空の劣化を判定する判定手段を有する信号処理部とを備えたことを特徴とする密閉型開閉装置の真空度劣化検出装置。
IPC (3件)：
H01H 33/668
, H02B 13/025
, H02B 13/065
H01H33/668 K
, H02B13/06 N
, H02B13/06 G
5G017BB01
, 5G017DD12
, 5G017EE04
, 5G026KA07
, 5G026KB04
