特許

J-GLOBAL ID：201403052894022545

電気泳動用試験具およびその製造方法

発明者： 藤田 大河 ,  中川 政俊
出願人/特許権者： シャープ株式会社
代理人 (5件)： 野河 信太郎 ,  甲斐 伸二 ,  金子 裕輔 ,  稲本 潔 ,  冨田 雅己
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-058123
公開番号（公開出願番号）：特開2014-182091
出願日： 2013年03月21日
公開日（公表日）： 2014年09月29日
要約：

【課題】異常電界の発生を防止して高精度な分析を行うことができる電気泳動用試験具およびそれを用いた電気泳動方法を提供すること。【解決手段】基材と、基材上に形成されたpH勾配を有するゲル層と、基材の対向位置に設けられた複数の導電部材とを備え、 各導電部材は、前記ゲル層と接触したゲル接触部と、外部電源の正負極と接触可能な電極接触部とを有し、前記ゲル接触部は、ゲル層における電気泳動方向と直交する方向の一端面から他端面に亘って連続的にゲル層と接触していることを特徴とする電気泳動用試験具。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

基材と、前記基材上に形成されたpH勾配を有するゲル層と、前記基材の対向位置に設けられた複数の導電部材とを備え、 前記導電部材は、前記ゲル層と接触したゲル接触部と、外部電源の正負極と接触可能な電極接触部とを有し、 前記ゲル接触部は、前記ゲル層における電気泳動方向と直交する方向の一端面から他端面に亘って連続的に前記ゲル層と接触していることを特徴とする電気泳動用試験具。

IPC (1件)：

G01N 27/447

FI (2件)：

G01N27/26 315D ,  G01N27/26 315E