特許

J-GLOBAL ID：201403054055723506

加熱対象物の温度測定方法

発明者： 平野 貴之 ,  大久保 貴史 ,  平野 亜紀子
出願人/特許権者： 三菱レイヨン株式会社
代理人 (2件)： 野口 武男 ,  小林 均
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-090438
公開番号（公開出願番号）：特開2014-215084
出願日： 2013年04月23日
公開日（公表日）： 2014年11月17日
要約：

【課題】加熱源によって加熱される加熱対象物の加熱を妨げることなく、多大で複雑な設備を用いずに、正確な温度を、短時間に測定することを目的とする。【解決手段】 加熱炉(1)内の、加熱源(3)によって加熱される加熱対象物(2)の表面温度をサーモグラフィー(4,4')を用いて測定する方法に関する。加熱対象物(2)の温度測定領域を第1温度測定領域Aとし、同第1温度測定領域Aを加熱する加熱源(3)の一部または全部の加熱領域を対応加熱源領域Bとする。前記第1温度測定領域Aと前記対応加熱源領域Bとがサーモグラフィーの画像中に映るようにサーモグラフィーを定置する。サーモグラフィー(4)により得られる、第1温度測定領域Aから放射される第1輝度分布D1 と対応加熱源領域Bから直接放射される第2輝度分布D2 とを用いて、加熱対象物の表面温度TをW特定の演算式をもって求める。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

加熱炉内の、加熱源によって加熱される加熱対象物の表面温度をサーモグラフィーを用いて測定する方法であって、 加熱対象物の温度測定領域を第1温度測定領域Aとし、同第1温度測定領域Aを加熱する加熱源の一部または全部の加熱領域を対応加熱源領域Bとして、前記第1温度測定領域Aと前記対応加熱源領域Bとがサーモグラフィーの画像中に映るようにサーモグラフィーを設置し、 サーモグラフィーにより得られる、第1温度測定領域Aの反射赤外線の第1輝度分布D1 と対応加熱源領域Bから直接照射される赤外線の第2輝度分布D2 とを用いて、加熱対象物の表面温度Tを求める、 加熱対象物の温度測定方法。

IPC (3件)：

G01J 5/00 ,  G01J 5/06 ,  G01J 5/48

FI (3件)：

G01J5/00 101A ,  G01J5/06 ,  G01J5/48 A

Fターム (8件)：

2G066AC01 ,  2G066AC11 ,  2G066BA04 ,  2G066BA30 ,  2G066BB02 ,  2G066BB05 ,  2G066CA02 ,  2G066CA14