特許
J-GLOBAL ID:201403055457437174
部品検査装置及び部品検査方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (5件):
岡部 讓
, 吉澤 弘司
, 三山 勝巳
, ▲濱▼口 岳久
, 川崎 孝
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-200636
公開番号(公開出願番号):特開2014-055845
出願日: 2012年09月12日
公開日(公表日): 2014年03月27日
要約:
【課題】従来の技術では、円筒状物体内部及び両端開口型円錐ミラーによる反射光が円筒状物体内で乱反射して撮像装置へ入ることになるため、円筒状物体内部の底面に配置された部品形状を正確に検出することが難しい。【解決手段】 円筒状のスコープ(105)と、スコープの外周に固定された発光部品(103)と、スコープに接続され、円筒状の検査体の内部に形成された検査対象物を撮影する撮像装置(104)とを備える部品検査装置(100)を提供する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
円筒状のスコープと、
前記スコープの外周に固定された発光部品と、
前記スコープに接続され、円筒状の検査体の内部に形成された検査対象物を撮影する撮像装置とを備える部品検査装置。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (12件):
2G051AA90
, 2G051AB03
, 2G051AB10
, 2G051AC15
, 2G051AC21
, 2G051BA01
, 2G051BB01
, 2G051BB17
, 2G051BC01
, 2G051CA04
, 2G051CB01
, 2G051DA05
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