特許
J-GLOBAL ID:201403058825381108
画像形成装置、検査装置、及び検査方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人暁合同特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-178424
公開番号(公開出願番号):特開2014-035535
出願日: 2012年08月10日
公開日(公表日): 2014年02月24日
要約:
【課題】簡易な方法で、検出センサの測定誤差を算出する術を提供する。【解決手段】画像を形成する形成部5と、センサ80と、制御装置100とを含み、前記制御装置100は、第1、第2マーク210、220を含む誤差検出用マーク200を担持体34上に形成する誤差検出用マーク形成処理(S20)と、前記誤差検出用マーク200を前記センサ80を用いて測定する第1測定処理(S30)と、両マーク210、220の測定値から前記センサ80の測定誤差を検出する測定誤差検出処理(S50)と、前記形成部5を用いて補正用マーク170を担持体34上に形成する補正用マーク形成処理(S80)と、前記補正用マーク170を前記センサ80を用いて測定する第2測定処理(S90)と、前記補正用マーク170の測定値と前記センサ80の測定誤差とに基づいて画像を形成する位置のずれを補正する補正処理(S110)を行う。【選択図】図11
請求項(抜粋):
一方向に循環移動する担持体と、
前記担持体上に現像剤を用いて画像を形成する形成部と、
前記担持体上の照射位置に向けて光を照射する投光部と、前記投光部から前記担持体に向けて照射された光の反射光を受光し受光量に応じた受光信号を出力する受光部とを有するセンサと、
制御装置と、を含み、
前記制御装置は、
第1マークと、前記第1マークに対して前記担持体の移動方向であるX方向に一定距離離れた第2マークとを含む画像である誤差検出用マークを、前記形成部を用いて前記担持体上の前記照射位置に形成する誤差検出用マーク形成処理と、
前記担持体上の前記照射位置に形成された前記誤差検出用マークを、前記センサを用いて測定する第1測定処理と、
前記第1測定処理にて測定した前記第1マークの測定値と前記第2マークの測定値とから前記センサの測定誤差を検出する測定誤差検出処理と、
前記形成部を用いて補正用マークを前記照射位置に形成する補正用マーク形成処理と、
前記担持体上の照射位置に形成された前記補正用マークを、前記センサを用いて測定する第2測定処理と、
前記第2測定処理にて測定した前記補正用マークの測定値と、前記測定誤差検出処理にて検出した前記センサの測定誤差とに基づいて、画像を形成する位置のずれを補正する補正処理とを行う画像形成装置。
IPC (2件):
FI (2件):
G03G15/01 Y
, G03G21/00 372
Fターム (41件):
2H270LA14
, 2H270LD03
, 2H270LD08
, 2H270MB13
, 2H270MB16
, 2H270MB25
, 2H270MB28
, 2H270MB30
, 2H270MB36
, 2H270MC23
, 2H270MC24
, 2H270MD05
, 2H270MD06
, 2H270MF08
, 2H270MF14
, 2H270MF17
, 2H270ZC03
, 2H270ZC04
, 2H270ZC05
, 2H300EB07
, 2H300EB12
, 2H300EF02
, 2H300EG03
, 2H300EH17
, 2H300EJ09
, 2H300EJ47
, 2H300EK03
, 2H300FF05
, 2H300GG22
, 2H300GG23
, 2H300GG27
, 2H300QQ10
, 2H300QQ25
, 2H300RR35
, 2H300RR38
, 2H300RR39
, 2H300RR40
, 2H300RR50
, 2H300TT03
, 2H300TT04
, 2H300TT05
引用特許:
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