特許

J-GLOBAL ID：201403059099045116

プラズマ分光分析装置

発明者： 市川 慈 ,  坂元 秀之 ,  山本 和子 ,  小原 賢信
出願人/特許権者： 株式会社日立ハイテクノロジーズ
代理人 (3件)： 井上 学 ,  戸田 裕二 ,  岩崎 重美
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-172470
公開番号（公開出願番号）：特開2014-032094
出願日： 2012年08月03日
公開日（公表日）： 2014年02月20日
要約：

【課題】 本発明は、標準試料の電気伝導度と検体の電気伝導度を一致させ、精度の良い測定が可能な分光分析装置を提供する。【解決手段】上記課題を解決するために、本発明は以下の構成を有する。試料を導入する導入部と、導入部から導入された試料を送液する流路と、前記流路に狭小部を設け当該狭小部に電圧を印加する電源部と、前記狭小部における発光を検出する検出部を備える分析装置において、流路上の試料の電気伝導度を測定する計測部と、前記計測部により測定された電気伝導度に基づいて、前記流路上に電解溶液を導入するポンプを備えることを特徴とする分光分析装置。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

試料を導入する導入部と、導入部から導入された試料を送液する流路と、前記流路に狭小部を設け当該狭小部に電圧を印加する電源部と、前記狭小部における発光を検出する検出部を備える分析装置において、 流路上の試料の電気伝導度を測定する計測部と、前記計測部により測定された電気伝導度に基づいて、前記流路上に電解溶液を導入するポンプを備えることを特徴とする分光分析装置。

IPC (1件)：

G01N 21/73

FI (1件)：

G01N21/73

Fターム (9件)：

2G043AA01 ,  2G043CA04 ,  2G043DA01 ,  2G043DA05 ,  2G043EA08 ,  2G043FA09 ,  2G043JA04 ,  2G043KA02 ,  2G043LA01