特許
J-GLOBAL ID：201403059451035363
試料の物理的性質の測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鷲田 公一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-093863
公開番号（公開出願番号）：特開2014-215214
出願日： 2013年04月26日
公開日（公表日）： 2014年11月17日
要約：
【課題】ポンププローブ法を利用して任意の周波数の信号を検出することができる、試料の物理的性質の測定方法を提供すること。【解決手段】繰り返し周波数がfHzのポンプ光パルス列を周波数FHzで振幅変調して、fn±FHz(nは任意の整数)の周波数成分を含むポンプ光パルス列を生成する。前記振幅変調された前記ポンプ光パルス列を遅延光路を介して試料に照射する。前記ポンプ光パルス列を照射された前記試料に、繰り返し周波数がFHzの前記プローブ光パルス列を照射して、前記ポンプ光パルス列の照射に起因するfn±FHzの周波数成分を含む信号を前記試料から検出する。前記FHzは、0〜f/2Hzの範囲内である。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
ポンププローブ法を利用する試料の物理的性質の測定方法であって、
繰り返し周波数がfHzのポンプパルス列を周波数FHzで振幅変調して、fn±FHz(nは任意の整数)の周波数成分を含むポンプパルス列を生成する工程と、
振幅変調された前記ポンプパルス列を試料に印可する工程と、
前記ポンプパルス列が前記試料に到達してからt’秒後にプローブパルス列が前記試料に到達するように、前記ポンプパルス列を印加された前記試料に、繰り返し周波数がfHzのプローブパルス列を印加して、前記ポンプパルス列の印加に起因するfn±FHzの周波数成分を含む信号を前記試料から検出する工程と、
を含む、試料の物理的性質の測定方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (5件)：
2G047AA05
, 2G047CA04
, 2G047GD01
, 2G047GF06
, 2G047GG12
