特許
J-GLOBAL ID：201403060590605717
有機エレクトロルミネッセンス素子
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
舘野 千惠子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-192964
公開番号（公開出願番号）：特開2014-049668
出願日： 2012年09月03日
公開日（公表日）： 2014年03月17日
要約：
【課題】発光効率に優れると共に簡易な構造で複数色を発光する有機エレクトロルミネッセンス素子(有機EL素子)を提供する。【解決手段】半導体微粒子から構成される多孔質な半導体部の孔に発光物質が含有された発光層を複数備え、複数の発光層を構成する多孔質な半導体部4a、4bは夫々下記(1)で求められる個数平均1次粒径が100nm以下の半導体微粒子を含有し、且つ夫々の半導体部に含まれる1次粒子径が0.1nm以上7nm以下である半導体微粒子の含有量が発光層ごとに異なるように制御して複数色を発光する有機EL素子とする。(1)の測定法:SEM観察で得られた半導体部の画像から各半導体微粒子の投影面積と同等の円相当径を測定してその分布を個数基準で算出する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
半導体微粒子から構成される多孔質な半導体部の孔に発光物質が含有された発光層を複数備え複数の色を発光する有機エレクトロルミネッセンス素子であって、
前記多孔質な半導体部はそれぞれ下記測定法(1)により求められる個数平均1次粒径が100nm以下である半導体微粒子を含有し、且つそれぞれの半導体部において含まれる1次粒子径が0.1nm以上7nm以下である半導体微粒子の下記測定法(2)により求められる含有量が発光層ごとに異なることを特徴とする有機エレクトロルミネッセンス素子。
(1)[個数平均1次粒子径の測定法]:
SEM観察で得られた半導体部の画像から各半導体微粒子の投影面積と同等の円相当径(1次粒子径)を測定してその分布を個数基準で算出し個数平均1次粒径を求める。
(2)[1次粒子径が0.1nm以上7nm以下である半導体微粒子の含有量の測定法]:
SEM観察で得られた半導体部の画像から各半導体微粒子の投影面積と同等の円相当径(1次粒子径)を測定してその分布を個数基準で求め、1次粒子径が0.1nm以上7nm以下である半導体微粒子の積算値を得、全粒径の半導体微粒子総計に対する前記積算値の割合(%)を算出して含有量を求める。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H05B33/14 B
, H05B33/12 C
3K107AA01
, 3K107BB01
, 3K107CC04
, 3K107CC06
, 3K107CC45
, 3K107DD51
, 3K107DD53
, 3K107DD54
, 3K107DD57
, 3K107DD58
, 3K107EE10
, 3K107FF14
, 3K107FF15
