特許

J-GLOBAL ID：201403061485471523

半導体集積回路および変調率測定方法

発明者： ▲高▼津 康司
出願人/特許権者： 株式会社リコー
代理人 (1件)： 瀧野 秀雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-257270
公開番号（公開出願番号）：特開2014-107324
出願日： 2012年11月26日
公開日（公表日）： 2014年06月09日
要約：

【課題】SSCGが所望の変調率で動作しているか確認することができる半導体集積回路および変調率測定方法を提供する。【解決手段】SSCG2の出力クロックをカウンタ4でカウントする。そして、SSCG2の変調周期を等分割数設定部6で等分割し、その等分割数と変調周期設定部3に設定された変調周期に基づいて等分割設定数を算出して等分割された期間の長さを求める。そして、その等分割された期間をカウンタ5でカウントして等分割設定数に一致したときのカウンタ4のカウント値をレジスタ群8に格納、保持させ、変調周期分のカウント値から最大値と最小値を抽出して出力する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

入力される第1のクロックから所定の変調周期かつ所定の変調率で周波数を変調させた変調クロックを出力するスペクトラム拡散クロック発振回路を有する半導体集積回路において、 前記所定の変調周期を複数の期間に等分割する分割部と、 前記分割部で等分割された複数の期間それぞれの前記変調クロック数を計測する計測部と、 前記計測部で計測された前記変調クロック数から最大値と最小値を抽出する抽出部と、 を有することを特徴とする半導体集積回路。

IPC (3件)：

H01L 27/04 ,  H01L 21/822 ,  H03K 5/156

FI (3件)：

H01L27/04 T ,  H03K5/156 A ,  H01L27/04 H

Fターム (9件)：

5F038BH19 ,  5F038CD06 ,  5F038DT12 ,  5F038EZ20 ,  5J039GG05 ,  5J039KK01 ,  5J039KK20 ,  5J039KK23 ,  5J039MM13