特許
J-GLOBAL ID:201403062615858430

分光測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (7件): 棚井 澄雄 ,  志賀 正武 ,  鈴木 三義 ,  高柴 忠夫 ,  増井 裕士 ,  鈴木 史朗 ,  橋本 宏之
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-098722
公開番号(公開出願番号):特開2014-219281
出願日: 2013年05月08日
公開日(公表日): 2014年11月20日
要約:
【課題】分光測定装置において、測定対象の位置合わせに必要な時間を低減して測定時間を短縮することができるようにする。【解決手段】顕微分光測定装置50は、光源1と、ピンホール絞り2と、コリメータレンズ3と、対物レンズ7と、参照体60を保持し、参照平面60aの配置位置をピンホール絞り2と光学的に共役な位置関係にある測定位置と、測定位置から離れた退避位置とに、切り替える参照体ホルダと、被検レンズ61を保持し、被検レンズ面61aの配置位置を測定位置と、退避位置とに、切り替える被検体保持部10と、対物レンズ7に対して一定の位置関係を有するように配置され、参照部8と当接することにより、参照部8を位置決めする位置決め面と、測定位置に配置された被測定体によって反射された光束を集光する集光レンズ15と、この光束の分光分布を測定する分光測定部19と、を備える。【選択図】図1
請求項(抜粋):
参照体および被検体の分光反射特性を測定することにより、前記被検体の前記参照体に対する相対分光反射特性を測定する分光測定装置であって、 光源と、 該光源から出射された光束を整形するピンホール絞りと、 該ピンホール絞りを透過した光束を集光して略平行な光束とするコリメータレンズと、 該コリメータレンズを通過した光束を集光する対物レンズと、 前記参照体を保持し、該参照体の表面の配置位置を、前記コリメータレンズおよび前記対物レンズを介して前記ピンホール絞りと光学的に共役な位置関係にある測定位置と、該測定位置から離れた退避位置とに、切り替え可能に設けられた参照体保持部と、 前記被検体を保持し、該被検体の表面の配置位置を、前記測定位置と、該測定位置から離れた退避位置とに、切り替え可能に設けられた被検体保持部と、 前記対物レンズに対して一定の位置関係を有するように配置され、前記参照体保持部と前記被検体保持部とからなる保持部のうち、少なくとも前記参照体保持部と当接することにより、少なくとも前記参照体保持部を前記測定位置に位置決めする測定用位置決め部と、 前記測定位置に配置された前記参照体または前記被検体によって反射され、前記対物レンズを透過した光束を集光する集光レンズと、 該集光レンズにより集光された光束の分光分布を測定する分光器と、 を備える、分光測定装置。
IPC (1件):
G01N 21/27
FI (1件):
G01N21/27 E
Fターム (19件):
2G059AA02 ,  2G059BB08 ,  2G059BB15 ,  2G059CC20 ,  2G059EE02 ,  2G059EE10 ,  2G059FF01 ,  2G059FF03 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK04 ,  2G059LL01 ,  2G059MM09 ,  2G059NN01

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