特許

J-GLOBAL ID：201403064127606432

光干渉断層画像撮像装置

発明者： 藤井 英一 ,  太田 健史
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (2件)： 阿部 琢磨 ,  黒岩 創吾
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-152132
公開番号（公開出願番号）：特開2014-016181
出願日： 2012年07月06日
公開日（公表日）： 2014年01月30日
要約：

【課題】 OCT装置で高い深さ分解能と高速な画像取得を両立することは困難だった。【解決手段】 掃引帯域の異なる波長掃引光源を複数持ち、波長分割して同時掃引し、複数の波長掃引光源の出力光を時分割で切り替えて測定対象に照射し、信号取得する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

周期的に光の発振波長が変化し中心波長が互いに相違する複数の波長掃引光源を備えた光源部と、 前記光源部より射出された光を検体への照射光と、参照光に分岐すると共に、前記検体からの反射光と、前記参照光と、の干渉光を発生させる干渉光学系と、 前記干渉光を検出する光検出部と、該光検出部で検出された干渉信号の強度に基づいて、前記検体の断層画像を得る演算処理部と、を備えた光干渉断層画像撮像装置であって、 前記複数の波長掃引光源を同時に波長掃引するための制御ユニットと、前記複数の光源より射出される光を切り替えて出力する光スイッチユニットと、を有し、前記光スイッチユニットにより前記複数の光源より射出される光を順次切り替えて得られる、前記複数の光源を構成する第一の光源の光出力に基づく第一の干渉信号と、前記複数の光源を構成する第二の光源の光出力に基づく第二の干渉信号と、を接続して得られる前記干渉信号の前記強度に基づいて前記断層画像を得ることを特徴とする光干渉断層画像撮像装置。

IPC (1件)：

G01N 21/17

FI (1件)：

G01N21/17 630

Fターム (12件)：

2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059GG01 ,  2G059GG03 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ30 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09