特許
J-GLOBAL ID:201403064552554349

光子計数検出器

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 伊東 忠重 ,  伊東 忠彦 ,  大貫 進介
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2014-536375
公開番号(公開出願番号):特表2014-530704
出願日: 2012年10月12日
公開日(公表日): 2014年11月20日
要約:
撮像システム(300)は、直接変換検出器ピクセルを備え、撮像システムの試験領域を横断する放射線を検出して、検出された放射線を示す信号を生成する検出器アレイ(314)と、検出器アレイによって生成される検出された放射線を示す信号、又は異なる既知のエネルギレベルに対応する異なる既知の高さを有するテストパルスの組を二者択一的に処理して、検出された放射線又はテストパルスの組の処理された結果としてのエネルギを示す高さを有する出力パルスを生成するよう構成されるパルス整形部(316)と、テストパルスの組の高さ及び所定の固定エネルギ閾値の組に関連してテストパルスの組に対応する出力パルスの高さを解析して、その解析の結果に基づきベースラインを示す閾値調整信号を生成するよう構成される閾値調整部(330)とを有する。
請求項(抜粋):
複数の直接変換検出器ピクセルを有し、撮像システムの試験領域を横断する放射線を検出し、検出された放射線を示す信号を生成する検出器アレイと、 前記検出器アレイによって生成された前記検出された放射線を示す信号、又は異なる既知のエネルギレベルに対応する異なる既知の高さを有するテストパルスの組を二者択一的に処理し、処理された前記検出された放射線又は前記テストパルスの組のエネルギを示す高さを有する出力パルスを生成するよう構成されるパルス整形部と、 前記テストパルスの組の高さ及び所定の固定エネルギ閾値の組に関連して前記テストパルスの組に対応する前記出力パルスの高さを解析し、該解析の結果に基づきベースラインシフトを示す閾値調整信号を生成するよう構成される閾値調整部と を有する撮像システム。
IPC (1件):
A61B 6/03
FI (2件):
A61B6/03 350F ,  A61B6/03 373
Fターム (8件):
4C093AA22 ,  4C093CA13 ,  4C093CA18 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093FC19 ,  4C093FD09 ,  4C093FD11
引用特許:
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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