特許
J-GLOBAL ID：201403066555549853
分光計測方法、分光計測器、および変換行列の生成方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
上柳 雅誉
, 宮坂 一彦
, 渡辺 和昭
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-180799
公開番号（公開出願番号）：特開2014-038042
出願日： 2012年08月17日
公開日（公表日）： 2014年02月27日
要約：
【課題】分光計測器の個体差や測誤差の影響を受けずに精度良くスペクトルを推定する。【解決手段】計測スペクトルに変換行列を作用させてスペクトルに変換する。変換行列は次のように決定する。既知光についての計測スペクトル(既知光計測スペクトル)を、基準の計測器による計測スペクトルの主成分ベクトルが構成する線形空間に線形射影して基準既知光計測スペクトルに変換する。この基準既知光計測スペクトルに変換行列を作用させて得られる推定スペクトルと既知光のスペクトル(既知光スペクトル)との偏差と、変換行列の各成分の分散との線形結合によって定義される評価関数が極値となるように決定する。こうすれば、分光計測器の分光特性や感度特性などの計測が不要となるので誤差の混入が抑制され、計測スペクトルからスペクトルを精度良く推定することが可能となる。【選択図】図12
請求項（抜粋）：
光を受光して、第1個数の所定の波長での光強度を表すスペクトルを計測する分光計測方法であって、
受光した光を第2個数の所定の波長である計測波長の光に分光する分光工程と、
前記第2個数の前記計測波長での光強度を検出することによって、前記第2個数の光強度を有する計測スペクトルを生成する計測スペクトル生成工程と、
前記計測スペクトルを前記スペクトルに変換するための変換行列を決定する変換行列決定工程と、
前記計測スペクトルに前記変換行列を作用させることによって、前記計測スペクトルを前記スペクトルに変換する計測スペクトル変換工程と、
を備え、
前記変換行列決定工程は、
予め定められた基準の計測器から得られた前記計測スペクトルを主成分分析して、前記第2個数よりも少ない第3個数の主成分ベクトルを予め選択しておく工程と、
前記スペクトルが既知の光である既知光についての前記計測スペクトルである既知光計測スペクトルを取得する工程と、
前記既知光計測スペクトルを、前記第3個数の主成分ベクトルによって構成される線形空間に線形射影することによって、前記既知光計測スペクトルを基準既知光計測スペクトルに変換する工程と、
前記基準既知光計測スペクトルに前記変換行列を作用させて得られた前記スペクトルである推定スペクトルと前記既知光スペクトルとの偏差と、前記変換行列を構成する各成分の分散との線形結合によって定義される評価関数が極値となる条件に基づいて前記変換行列を決定する工程と、
を備えることを特徴とする分光計測方法。
IPC (3件)：
G01J 3/02
, G01J 3/51
, G01J 3/26
G01J3/02 C
, G01J3/51
, G01J3/26
2G020AA04
, 2G020AA08
, 2G020CC26
, 2G020CC63
, 2G020CD03
, 2G020CD12
, 2G020CD24
, 2G020CD38
, 2G020CD51
, 2G020DA05
, 2G020DA12
