特許
J-GLOBAL ID：201403066861576406
多状態システムの診断方法及び診断装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-250017
公開番号（公開出願番号）：特開2014-099021
出願日： 2012年11月14日
公開日（公表日）： 2014年05月29日
要約：
【課題】多値決定グラフ(MDD)を用いた多状態システムの診断方法及び診断装置を提供する。【解決手段】多状態システムは、構造関数と呼ばれる多値論理関数としてみなすことができ、その構造関数は多くの場合、単調増大関数であるため、EVMDDでコンパクトに表現することができる。しかしながら、EVMDDを用いた多状態システムの解析・診断は、通常のMDDを用いた方法とは違い単純ではない。 EVMDDを用いることにより、構造関数を通常のMDDを用いた既存手法よりもコンパクトに表現でき、なおかつ既存手法と同程度の計算時間でシステムを解析することができ、この解析方法を用いれば効率のよい診断方法及び診断段装置が実現できる。【選択図】図6
請求項（抜粋）：
多状態システムの構造関数を表現する、重み付き枝を有する多値決定グラフ(EVMDD)と、システム内の各構成要素における各状態の発生確率Pc、診断するシステムの状態s、診断する構成要素xiとその状態 cを入力とし、条件付確率P(f = s | xi = c)を出力とする多状態システムの診断方法であって、以下のステップをEVMDDの根節点から再帰的に各節点vで実行し、根節点でのf = sにおける確率を答とすることを特徴とする多状態システムの診断方法。
ステップS1:EVMDDの読み込み処理。
ステップS2:ディスク又はキーから、各部品における各状態の発生確率、診断するシステムの状態sおよび部品xiとその状態cが入力される。
ステップS3:多状態システムの診断が行われる。これは再帰処理にてなされ、引数として、EVMDDの根節点、各状態の発生確率Pc、システムの状態s、部品xiとその状態cが使用され、結果(戻り値)としてシステムの各状態の条件付確率が得られる。
ステップS4:上記条件付確率が表示装置にて表示される。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G06N5/04 550J
, G06F11/22 360Z
