特許

J-GLOBAL ID：201403067490338023

電池劣化寿命推定方法、電池劣化寿命推定装置、電動車両および電力供給装置

発明者： 宮木 幸夫
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (2件)： 杉浦 正知 ,  杉浦 拓真
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-228122
公開番号（公開出願番号）：特開2014-081238
出願日： 2012年10月15日
公開日（公表日）： 2014年05月08日
要約：

【課題】電池の劣化寿命を正確に推定する。【解決手段】電池初充電後X日経過した時点における劣化率Rを有する2次電池に関して、初充電後(X+Y)日後の劣化予測値を、劣化マスターデータより算出する電池劣化寿命推定方法である。算出用温度Tおよび算出用充放電深度Sの条件を用いて劣化マスターデータが特定され、特定される劣化マスターデータにおいて、劣化率Rを与える経過日数Xcorrを導出し、初充電後(Xcorr+Y)日後の劣化予測値を特定される劣化マスターデータから算出する電池劣化寿命推定方法である。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

電池初充電後X日経過した時点における劣化率Rを有する2次電池に関して、初充電後(X+Y)日後の劣化予測値を、劣化マスターデータより算出する電池劣化寿命推定方法であって、 算出用温度Tおよび算出用電池状態Sの条件を用いて前記劣化マスターデータが特定され、 前記特定される劣化マスターデータにおいて、前記劣化率Rを与える経過日数Xcorrを導出し、初充電後(Xcorr+Y)日後の前記劣化予測値を前記特定される劣化マスターデータから算出する電池劣化寿命推定方法。

IPC (5件)：

G01R 31/36 ,  H01M 10/48 ,  H01M 4/58 ,  H01M 4/587 ,  H01M 10/052

FI (6件)：

G01R31/36 A ,  H01M10/48 P ,  H01M4/58 ,  H01M4/587 ,  H01M10/0525 ,  H01M10/48 301

Fターム (31件)：

2G016CA03 ,  2G016CB00 ,  2G016CB05 ,  2G016CC01 ,  2G016CC03 ,  2G016CC04 ,  2G016CC10 ,  2G016CC25 ,  2G016CC27 ,  2G016CC28 ,  2G016CD02 ,  2G016CD03 ,  2G016CE00 ,  2G016CF06 ,  2G016CF07 ,  5H029AJ01 ,  5H029AK01 ,  5H029AL07 ,  5H029AM02 ,  5H029AM03 ,  5H029AM04 ,  5H029AM07 ,  5H029HJ02 ,  5H030AS08 ,  5H030FF22 ,  5H030FF41 ,  5H050AA01 ,  5H050BA17 ,  5H050CA01 ,  5H050CB08 ,  5H050HA02