特許

J-GLOBAL ID：201403070224270929

画像検査装置及び画像検査方法

発明者： 伊藤 仁志
出願人/特許権者： 株式会社リコー
代理人 (1件)： 酒井 宏明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-052340
公開番号（公開出願番号）：特開2014-178204
出願日： 2013年03月14日
公開日（公表日）： 2014年09月25日
要約：

【課題】反射型LED等の発光素子を複数配列し、広範囲に平行光を照射する光沢用照明装置を使って、斜め方向から照明光を被計測対象物に照射し、その正反射光を撮像素子で受光することで、被計測対象物の光沢分布を検査する画像検査装置において、照明ムラの発生を許容しつつ、検査精度の向上を図る。【解決手段】光沢用照明装置を発光素子の配列方向(主走査方向)に移動させて、被計測対象物の光沢分布を複数回撮影する。そして、複数の2次元光沢分布画像について、各画素値を平均して合成し、この合成した2次元光沢分布画像を検査する。【選択図】図5

請求項（抜粋）：

複数の発光素子が配列され、線状の平行光を出射する平行光照明手段を使用し、前記平行光照明手段からの前記平行光を斜め方向から被計測対象物に照射し、該被計測対象物にて正反射した反射光を撮像素子で受光して、前記被計測対象物の光沢分布画像を撮影し、前記光沢分布画像を検査する画像検査装置であって、 前記平行光照明手段を発光素子の配列方向に移動させる光源移動手段と、 前記平行光照明手段の移動に応じて、前記撮像素子で繰り返し撮影された複数の光沢分布画像を合成して、1つの合成光沢分布画像を生成し、該合成光沢分布画像を検査する画像処理・検査手段と、 を有することを特徴とする画像検査装置。

IPC (2件)：

G01N 21/892 ,  G03G 21/00

FI (2件)：

G01N21/892 A ,  G03G21/00

Fターム (14件)：

2C250EB37 ,  2C250EB39 ,  2C250EB43 ,  2G051AA34 ,  2G051AB20 ,  2G051BA01 ,  2G051BA20 ,  2G051CA03 ,  2G051EA11 ,  2G051EB01 ,  2G051EC03 ,  2G051EC10 ,  2G051ED22 ,  2H134QA01

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 線状光源装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-163868   出願人：三菱電機株式会社
• 画像検査装置及び画像形成装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2010-163261   出願人：株式会社リコー