特許

J-GLOBAL ID：201403071213030957

分析試料調製方法及びその分析方法

発明者： 岡田 治朗
出願人/特許権者： 住友金属鉱山株式会社
代理人 (5件)： 小池 晃 ,  伊賀 誠司 ,  藤井 稔也 ,  野口 信博 ,  祐成 篤哉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-211443
公開番号（公開出願番号）：特開2014-066586
出願日： 2012年09月25日
公開日（公表日）： 2014年04月17日
要約：

【課題】絶縁性の粉末試料を分析対象としたオージェ電子分光分析に際して、帯電現象を抑制して正確な分析を可能にする分析試料調製方法及びその分析方法を提供する。【解決手段】オージェ電子分光分析法により絶縁性粉末の元素分析を行うための分析試料の調製方法であって、絶縁性粉末と導電助剤との混合を行い、混合によって得られた混合物を金属製の粉末ホルダーに充填し、混合物に対して断面加工を行うことにより分析断面を形成する。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

オージェ電子分光分析法により絶縁性粉末の元素分析を行うための分析試料の調製方法であって、 前記絶縁性粉末と導電助剤との混合を行い、該混合によって得られた混合物を金属製の粉末ホルダーに充填し、該混合物に対して断面加工を行うことにより分析断面を形成することを特徴とする分析試料調製方法。

IPC (2件)：

G01N 23/227 ,  G01N 1/28

FI (2件)：

G01N23/227 ,  G01N1/28 G

Fターム (12件)：

2G001AA03 ,  2G001BA09 ,  2G001CA03 ,  2G001GA01 ,  2G001HA01 ,  2G001KA01 ,  2G001MA04 ,  2G001NA03 ,  2G052AD35 ,  2G052AD55 ,  2G052EC18 ,  2G052GA19