特許

J-GLOBAL ID：201403072864827515

はんだ接続部の検査回路および方法

発明者： 小野 安季良 ,  高木 正夫
出願人/特許権者： 独立行政法人国立高等専門学校機構
代理人 (2件)： 須藤 阿佐子 ,  須藤 晃伸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-155561
公開番号（公開出願番号）：特開2014-095687
出願日： 2013年07月26日
公開日（公表日）： 2014年05月22日
要約：

【課題】断線故障および半断線故障を電気的に検出可能とするはんだ接続部の検査回路および方法の提供。【解決手段】方形波信号源VTと、検査プローブ3と、検査プローブ3および方形波信号源VTと接続される微分回路と、検査プローブ3と接続される出力部と、表示部とを備え、一端が接地された第1の金属配線1と、第1の金属配線の他端とはんだ接続された第2の金属配線2において、第2の金属配線2に検査プローブ3を当接させた状態で方形波信号源VTから印加すると、第1の金属配線1および第2の金属配線2のはんだ接続箇所の断線状況に応じた応答波形が表示部に表示される。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

はんだ接続部の接続状況を判定するための検査回路であって、 方形波信号源VTと、検査プローブと、検査プローブおよび方形波信号源VTと接続される微分回路と、検査プローブと接続される出力部と、表示部とを備え、 一端が接地された第1の金属配線と、第1の金属配線の他端とはんだ接続された第2の金属配線において、第2の金属配線に検査プローブを当接させた状態で方形波信号源VTから印加すると、第1の金属配線および第2の金属配線のはんだ接続箇所の断線状況に応じた応答波形が表示部に表示されるはんだ接続部の検査回路。

IPC (3件)：

G01R 31/04 ,  G01R 31/28 ,  G01R 31/26

FI (3件)：

G01R31/04 ,  G01R31/28 M ,  G01R31/26 F

Fターム (16件)：

2G003AA06 ,  2G003AB18 ,  2G003AE06 ,  2G003AF03 ,  2G003AH10 ,  2G014AA02 ,  2G014AB51 ,  2G014AB59 ,  2G014AB60 ,  2G014AC18 ,  2G132AA20 ,  2G132AD15 ,  2G132AE30 ,  2G132AF01 ,  2G132AG08 ,  2G132AL12