特許

J-GLOBAL ID：201403073238158314

透明基体のぎらつきを評価する方法

発明者： 玉田 稔 ,  妹尾 具展 ,  小林 裕介
出願人/特許権者： 旭硝子株式会社
代理人 (2件)： 伊東 忠重 ,  伊東 忠彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-103732
公開番号（公開出願番号）：特開2014-224735
出願日： 2013年05月16日
公開日（公表日）： 2014年12月04日
要約：

【課題】客観的かつ定量的に、透明基体のぎらつきを評価する方法を提供する。【解決手段】表示装置の上に配置される透明基体のぎらつきを評価する方法であって、(a)第1および第2の表面を有する透明基体を、前記第2の表面が前記表示装置の表示面側になるようにして、該表示装置の上に配置し、(b)前記透明基体を前記第1の表面側から撮影し、デジタル画像を取得し、(c)前記デジタル画像の一部を解析領域として選択し、前記解析領域を複数画素からなる複数の領域に分割し、前記各領域内における最大輝度値と最大輝度傾斜を求め、前記解析領域における前記最大輝度値と前記最大輝度傾斜それぞれのばらつきから算出される指標値を用いて、前記透明基体のぎらつきを定量化することを特徴とする方法。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

表示装置の上に配置される透明基体のぎらつきを評価する方法であって、 (a)第1および第2の表面を有する透明基体を、前記第2の表面が前記表示装置の表示面側になるようにして、該表示装置の上に配置し、 (b)前記透明基体を前記第1の表面側から撮影し、デジタル画像を取得し、 (c)前記デジタル画像の一部を解析領域として選択し、前記解析領域を複数画素からなる複数の領域に分割し、前記各領域内における最大輝度値と最大輝度傾斜を求め、前記解析領域における前記最大輝度値と前記最大輝度傾斜それぞれのばらつきから算出される指標値を用いて、前記透明基体のぎらつきを定量化する ことを特徴とする方法。

IPC (4件)：

G01B 11/30 ,  G02F 1/133 ,  G01M 11/00 ,  G02B 5/02

FI (4件)：

G01B11/30 102Z ,  G02F1/1335 ,  G01M11/00 T ,  G02B5/02 C

Fターム (19件)：

2F065AA50 ,  2F065BB01 ,  2F065BB22 ,  2F065DD04 ,  2F065FF04 ,  2F065FF41 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ41 ,  2G086EE10 ,  2G086EE12 ,  2H042BA04 ,  2H042BA11 ,  2H042BA13 ,  2H042BA20 ,  2H191FA40X ,  2H191FC42 ,  2H191LA21