特許

J-GLOBAL ID：201403073975851527

自動検査装置および自動検査方法

発明者： 笹井 昌年
出願人/特許権者： 株式会社メガトレード
代理人 (1件)： 久留 徹
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2011062301
公開番号（公開出願番号）：WO2012-164655
出願日： 2011年05月28日
公開日（公表日）： 2012年12月06日
要約：

【課題】プリント基板に形成されたスリットなどのように検査に必要のない領域を検査しないようにして、虚報を可能な限り少なくできるようにした自動検査装置を提供する。【解決手段】スルーホール11、スリット12、ネジ穴13などの貫通領域を有するプリント基板10を検査する自動検査装置1において、プリント基板10の画像を取得する画像取得手段2と、当該取得された画像から前記スルーホール11、スリット12、ネジ穴13などの貫通領域を抽出する貫通領域抽出手段3と、当該抽出された貫通領域のうち、比較的小さなスルーホール11を除去したプリント基板10の除去後画像を抽出する除去後画像抽出手段6と、当該抽出されたプリント基板10の除去後画像を収縮処理する収縮処理手段7とを備え、当該収縮処理された領域A1のみを検査できるようにする。【選択図】図7

請求項（抜粋）：

スルーホール、スリット、ネジ穴などの貫通領域を有するプリント基板を検査する自動検査装置において、 プリント基板の画像を取得する画像取得手段と、 当該取得された画像から前記スルーホール、スリット、ネジ穴などの貫通領域を抽出する貫通領域抽出手段と、 当該抽出された貫通領域のうち、所定の閾値よりも小さな貫通領域を除去したプリント基板の除去後画像を抽出する除去後画像抽出手段と、 当該抽出されたプリント基板の除去後画像を収縮処理する収縮処理手段と、 当該収縮処理された領域を検査する検査手段と、 を備えるようにしたことを特徴とする自動検査装置。

IPC (3件)：

G01N 21/956 ,  G01B 11/30 ,  G06T 1/00

FI (3件)：

G01N21/956 B ,  G01B11/30 A ,  G06T1/00 305A

Fターム (64件)：

2F065AA03 ,  2F065AA14 ,  2F065AA21 ,  2F065AA49 ,  2F065AA58 ,  2F065AA60 ,  2F065BB02 ,  2F065BB08 ,  2F065CC01 ,  2F065DD06 ,  2F065DD12 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065FF41 ,  2F065JJ02 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ25 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ05 ,  2F065QQ06 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ27 ,  2F065QQ31 ,  2F065RR09 ,  2F065UU05 ,  2G051AA65 ,  2G051AA68 ,  2G051AA84 ,  2G051AB20 ,  2G051AC21 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051EA08 ,  2G051EA11 ,  2G051EA14 ,  2G051EA16 ,  2G051EA17 ,  2G051EB01 ,  2G051ED04 ,  2G051ED07 ,  2G051ED15 ,  5B057AA03 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CE09 ,  5B057CF01 ,  5B057CF02 ,  5B057CF04 ,  5B057CH11 ,  5B057DA03 ,  5B057DA07 ,  5B057DA08 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC04 ,  5B057DC09 ,  5B057DC32