表面汚染測定装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：磯野道造 , 多田悦夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-043332
公開番号（公開出願番号）：特開2014-169981
出願日： 2013年03月05日
公開日（公表日）： 2014年09月18日
要約：

【課題】検出器を対象表面に向けるだけで表面汚染密度を測定する。【解決手段】表面汚染測定装置1は、測定対象物9の表面の放射能汚染を検出する表面汚染検出ヘッド5と、測定対象物9の表面の放射能汚染を評価する汚染評価処理部22とを備えている。表面汚染検出ヘッド5は、長手方向の一端にコリメータ57a,57bが設けられ、長手方向の他端が放射線の遮蔽材で閉ざされている中空の放射線の遮蔽体55と、遮蔽体55内部の長手方向の各位置に於いて放射線を検出するγ線検出器51a〜51cと、測定対象物9との距離センサ52とを備えている。汚染評価処理部22は、遮蔽体55内部の長手方向の各位置に於ける各線量率、これら線量率を検出した長手方向の各位置と測定対象物9との距離から、測定対象物9の表面の放射能汚染を評価する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

測定対象物の表面の放射能汚染を検出する表面汚染検出ヘッドと、前記測定対象物の表面の放射能汚染を評価する汚染評価処理部と、を備え、前記表面汚染検出ヘッドは、長手方向の一端にコリメータが設けられ、長手方向の他端が放射線の遮蔽材で閉ざされている中空の放射線の遮蔽体と、前記遮蔽体内部の長手方向の各位置に於いて放射線を検出する放射線検出器と、前記測定対象物との距離測定手段とを備え、前記汚染評価処理部は、前記遮蔽体内部の長手方向の各位置に於ける各線量率、前記線量率を検出した長手方向の各位置と前記測定対象物との距離から、前記測定対象物の表面の放射能汚染を測定する、ことを特徴とする表面汚染測定装置。

IPC (3件)：

G01T 1/169 , G01T 1/167 , G01T 1/17

FI (3件)：

G01T1/169 A , G01T1/167 D , G01T1/17 D

Fターム (33件)：

2G088EE11 , 2G088EE17 , 2G088EE21 , 2G088FF04 , 2G088JJ11 , 2G088JJ29 , 2G088JJ35 , 2G088LL02 , 2G088LL11 , 2G088MM09 , 2G188AA10 , 2G188AA15 , 2G188AA19 , 2G188BB04 , 2G188BB18 , 2G188DD04 , 2G188DD10 , 2G188DD12 , 2G188DD16 , 2G188DD22 , 2G188DD30 , 2G188DD38 , 2G188EE10 , 2G188EE21 , 2G188EE25 , 2G188EE27 , 2G188EE29 , 2G188EE39 , 2G188FF02 , 2G188FF05 , 2G188FF11 , 2G188FF16 , 2G188GG09

引用特許：

審査官引用 (6件)

特開平1-260389
特開昭62-282288
特開昭62-282287

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