特許
J-GLOBAL ID：201403079772408308
光線路特性解析装置及びその解析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
蔵田 昌俊
, 野河 信久
, 峰 隆司
, 井上 正
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-518177
特許番号：特許第5521118号
出願日： 2012年05月31日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 基幹光ファイバの一方端を光分岐器によって複数系統に分岐し、前記光分岐器の分岐端部それぞれに分岐光ファイバの一方端を光結合してなる被試験光線路の特性を解析する光線路特性解析装置であって、
波長の異なる第1及び第2試験光を発生し、当該第1及び第2試験光から互いに任意の時間差をもって第1及び第2試験光パルスを生成し合成する試験光パルス生成手段と、
前記被試験光線路の複数の分岐光ファイバそれぞれの他方端に配置され、前記第1及び第2試験光の波長の光を反射し、それ以外の波長の光を透過する複数の光反射フィルタと、
前記試験光パルス生成手段で生成される試験光パルスを前記被試験光線路の基幹光ファイバに入射し、当該基幹光ファイバの入射端から出射される戻り光を抽出する光サーキュレータと、
前記戻り光から誘導ブリルアン(Brillouin)後方散乱光を抽出する光フィルタと、
前記光フィルタで抽出された散乱光を受光して電気信号に変換する光受信器と、
前記電気信号をデジタル信号に変換する変換手段と、
前記デジタル信号から前記誘導ブリルアン後方散乱光を測定して前記被試験光線路の特性を解析する演算処理装置と
を具備し、
前記演算処理装置は、前記試験光パルス生成手段で生成される第1及び第2試験光パルスの時間差を変化させつつ、前記誘導ブリルアン後方散乱光を測定することを特徴とする光線路特性解析装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
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