特許
J-GLOBAL ID:201403082677810450

圧電デバイスおよび圧電デバイスの製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 長門 侃二
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2014-527553
公開番号(公開出願番号):特表2014-529902
出願日: 2012年07月24日
公開日(公表日): 2014年11月13日
要約:
少なくとも1つの圧電セラミック層(10)と、少なくとも1つの当該圧電セラミック層に接する電極(20)とを備えた圧電デバイスが提供され、この圧電セラミック層(10)は、一般式Pb1-x-y-[(2a-b)/2]-p/2V[(2a-b)/2-p/2]''CupBaxSry[(TizZr1-z)1-a-bWaSEb]O3の圧電セラミック材料を備え、0≦x≦0.035,0≦y≦0.025,0.42≦z≦0.5,0.0045≦a≦0.009,0.009≦b≦0.011,2a>b,p≦2a-bであり、SEは希土類金属であり、V''はPbの空位である。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
少なくとも1つの圧電セラミック層(10)と、少なくとも1つの当該圧電セラミック層に接する電極(20)とを備えた圧電デバイスであって、 前記圧電セラミック層(10)は、一般式Pb1-x-y-[(2a-b)/2]-p/2V[(2a-b)/2-p/2]''CupBaxSry[(TizZr1-z)1-a-bWaSEb]O3の圧電セラミック材料を備え、0≦x≦0.035,0≦y≦0.025,0.42≦z≦0.5,0.0045≦a≦0.009,0.009≦b≦0.011,2a>b,p≦2a-bであり、SEは希土類金属であり、V''はPbの空位である、ことを特徴とするデバイス。
IPC (7件):
H01L 41/187 ,  H01L 41/43 ,  H01L 41/09 ,  C04B 35/491 ,  C01G 25/00 ,  H01L 41/083 ,  H01L 41/27
FI (7件):
H01L41/187 ,  H01L41/43 ,  H01L41/09 ,  C04B35/49 A ,  C01G25/00 ,  H01L41/083 ,  H01L41/27
Fターム (23件):
4G031AA05 ,  4G031AA06 ,  4G031AA07 ,  4G031AA08 ,  4G031AA11 ,  4G031AA12 ,  4G031AA18 ,  4G031AA25 ,  4G031AA32 ,  4G031BA10 ,  4G031CA01 ,  4G031CA04 ,  4G031CA08 ,  4G031GA03 ,  4G031GA04 ,  4G031GA06 ,  4G031GA11 ,  4G048AA05 ,  4G048AB01 ,  4G048AC01 ,  4G048AD03 ,  4G048AD08 ,  4G048AE05
引用特許:
審査官引用 (8件)
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