特許

J-GLOBAL ID：201403088572778738

分析システム

発明者： 佐竹 宏之 ,  橋本 雄一郎 ,  管 正男 ,  長谷川 英樹
出願人/特許権者： 株式会社日立ハイテクノロジーズ
代理人 (3件)： 平木 祐輔 ,  関谷 三男 ,  渡辺 敏章
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-084950
公開番号（公開出願番号）：特開2014-206497
出願日： 2013年04月15日
公開日（公表日）： 2014年10月30日
要約：

【課題】本発明の目的は、イオンモビリティー装置において、高スループットに分析する技術を提供することにある。【解決手段】分析システムは、質量分析結果情報とイオン移動度分離に関する分析条件とが関連付けられている第1の情報を格納する記憶部と、ある測定対象イオンの質量分析結果情報に対応する前記第1の情報の前記質量分析結果情報に関連付けられた前記分析条件を、前記測定対象イオンの第1の分析条件として決定する制御部と、を備える。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

質量分析結果情報とイオン移動度分離に関する分析条件とが関連付けられている第1の情報を格納する記憶部と、 ある測定対象イオンの質量分析結果情報に対応する前記第1の情報の前記質量分析結果情報に関連付けられた前記分析条件を、前記測定対象イオンの第1の分析条件として決定する制御部と、 を備えることを特徴とする分析システム。

IPC (4件)：

G01N 27/62 ,  G01N 27/60 ,  G01N 30/72 ,  G01N 30/86

FI (5件)：

G01N27/62 X ,  G01N27/62 V ,  G01N27/60 D ,  G01N30/72 C ,  G01N30/86 G

Fターム (18件)：

2G041CA01 ,  2G041CA02 ,  2G041EA04 ,  2G041FA22 ,  2G041FA23 ,  2G041GA02 ,  2G041GA03 ,  2G041GA05 ,  2G041GA06 ,  2G041GA08 ,  2G041GA09 ,  2G041GA13 ,  2G041GA24 ,  2G041HA01 ,  2G041HA03 ,  2G041KA01 ,  2G041LA06 ,  2G041MA05