特許
J-GLOBAL ID:201403091029527173

脆弱試料の引張特性評価方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 葛和 清司 ,  三橋 規樹
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-017803
公開番号(公開出願番号):特開2014-149214
出願日: 2013年01月31日
公開日(公表日): 2014年08月21日
要約:
【課題】従来の引張試験では強度測定が困難な脆弱な材料に広く適用可能な、簡便に実施できる引張特性評価方法、および、これに用いる引張特性評価装置を提供する。【解決手段】脆弱試料の引張特性評価方法は、脆弱試料5を固定表面4に設置する工程と、前記脆弱試料5に線条体2を係止する工程とを含み、脆弱試料の引張特性評価装置は、脆弱試料5を固定できる固定表面4と、荷重測定装置3とを備える。【選択図】図1
請求項(抜粋):
脆弱試料を固定表面に設置する工程と、前記脆弱試料に線条体を係止する工程とを含む、脆弱試料の引張特性評価方法。
IPC (1件):
G01N 3/00
FI (2件):
G01N3/00 Z ,  G01N3/00 P
Fターム (9件):
2G061AA01 ,  2G061AB01 ,  2G061BA04 ,  2G061CA09 ,  2G061CB01 ,  2G061CC01 ,  2G061DA01 ,  2G061EA01 ,  2G061EB05
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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