特許
J-GLOBAL ID:201403092124884664
X線検査装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
鹿島 義雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-131676
公開番号(公開出願番号):特開2013-257155
出願日: 2012年06月11日
公開日(公表日): 2013年12月26日
要約:
【課題】被検査物の全領域の外観像を撮影することができるX線検査装置を提供する。【解決手段】互いに対向配置されたX線発生装置1とX線検出器2との間に設けられ、被検査物Wが載置されるステージ3と、ステージ3をX線光軸方向を含む3軸方向に移動させる移動機構4と、被検査物Wの一部領域のX線透視画像を取得するX線透視画像取得部21aと、被検査物Wの全領域の外観像をX線光軸方向から撮影する光学カメラ5と、外観像を表示器23に表示する外観像表示制御部21bと、外観像上の所望の位置が指定されることにより、当該所望の位置を含むX線透視画像が取得されるように、移動機構4を駆動させる移動機構制御部21cとを備えるX線検査装置10であって、被検査物Wの高さhが入力されることにより、外観像表示制御部21bは、高さhに基づいてステージ3をX線光軸方向に移動させた後、光学カメラ5に外観像を撮影させる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
互いに対向配置されたX線発生装置とX線検出器との間に設けられ、被検査物が載置されるステージと、
前記ステージをX線光軸方向を含む少なくとも3軸方向に移動させる移動機構と、
前記被検査物の一部領域のX線透視画像を取得するX線透視画像取得部と、
前記被検査物の全領域の外観像をX線光軸方向から撮影するための光学カメラと、
前記外観像を表示器に表示する外観像表示制御部と、
前記外観像上の所望の位置が指定されることにより、当該所望の位置を含むX線透視画像が取得されるように、前記移動機構を駆動させる移動機構制御部とを備えるX線検査装置であって、
前記被検査物の高さが入力されることにより、前記外観像表示制御部は、当該高さに基づいてステージをX線光軸方向に移動させた後、前記光学カメラに外観像を撮影させることを特徴とするX線検査装置。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (19件):
2F065AA03
, 2F065AA14
, 2F065AA16
, 2F065AA20
, 2F065BB02
, 2F065CC01
, 2F065FF01
, 2F065FF04
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065PP12
, 2F065QQ24
, 2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001HA16
, 2G001KA03
, 2G001PA11
, 2G001PA14
引用特許:
出願人引用 (4件)
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X線透視装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-426121
出願人:株式会社島津製作所
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X線透視検査装置及びX線透視検査方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2007-258953
出願人:東芝ITコントロールシステム株式会社
-
基板半田付け状態検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-144347
出願人:株式会社シム
-
X線検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2010-025780
出願人:株式会社島津製作所
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審査官引用 (4件)