特許

J-GLOBAL ID：201403094110571089

光学機器用遮光材

発明者： 豊島 靖麿 ,  大久保 貴志
出願人/特許権者： 株式会社きもと
代理人 (1件)： 大倉 宏一郎
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2012055053
公開番号（公開出願番号）：WO2012-132727
出願日： 2012年02月29日
公開日（公表日）： 2012年10月04日
要約：

遮光膜の必要物性を保持しながら、低光沢度領域が広い遮光膜を有する光学機器用遮光材を提供する。基材2上に遮光膜4を有する光学機器用遮光材1において、遮光膜4の表面性状が、A1及びA2の少なくとも何れかと、B1及びB2の少なくとも何れかとを満たすように調整されている。A1は三次元表面粗さ測定における算術平均粗さSaが0.4以上2.0以下、A2は三次元表面粗さ測定における十点平均粗さSzが1以上20以下、B1は三次元表面粗さ測定における中心平面からSaのn倍の高さ位置にある平面に突出する突起数Pn、Saの(n+1)倍の高さ位置にある平面に突出する突起数Pn+1、PnとPn+1 の比(Pn+1 /Pn)をRnとしたとき(但し、nはいずれも正の整数である。)、R1が55%以上、かつR4が7%以上となる条件であり、B2はR1が55%以上、R2が15%以上、及びR3が8%以上となる条件である。

請求項（抜粋）：

遮光膜を有する光学機器用遮光材において、 前記遮光膜は、下記条件A1及び条件A2の少なくとも何れかと、下記条件B1及び条件B2の少なくとも何れかとを満たすように、表面性状が調整してある光学機器用遮光材。 条件A1:三次元表面粗さ測定における算術平均粗さをSaとしたとき、Saの値が0.4以上2.0以下となる条件、 条件A2:三次元表面粗さ測定における十点平均粗さをSzとしたとき、Szの値が1以上20以下となる条件、 条件B1:三次元表面粗さ測定における凹凸の中心平面を基準面とし、この基準面からSaのn倍の高さ位置にある平面に突出する突起数をPnとし、Saの(n+1)倍の高さ位置にある平面に突出する突起数をPn+1 とし、PnとPn+1 の比(Pn+1 /Pn)をRnとしたとき(但し、nはいずれも正の整数である。)、R1が55%以上で、かつR4が7%以上となる条件、 条件B2:条件B1と同じく、Pn、Pn+1 、Rnとしたとき、少なくともR1が55%以上、R2が15%以上、及びR3が8%以上となる条件。

IPC (3件)：

G02B 5/00 ,  G03B 9/00 ,  G03B 9/08

FI (3件)：

G02B5/00 B ,  G03B9/00 A ,  G03B9/08 Z

Fターム (7件)：

2H042AA15 ,  2H042AA22 ,  2H080AA10 ,  2H080AA12 ,  2H080AA13 ,  2H081AA19 ,  2H081AA43