円二色性測定装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：岩橋祐司
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-190514
公開番号（公開出願番号）：特開2011-089979
特許番号：特許第5555099号
出願日： 2010年08月27日
公開日（公表日）： 2011年05月06日
請求項（抜粋）：

【請求項1】長軸方向が一致する左右の楕円偏光を形成する楕円偏光形成手段と、被測定試料を透過した前記左右の楕円偏光の短軸成分強度をそれぞれ測定する短軸成分強度測定手段と、前記左右の短軸成分強度の和と差の比より被測定試料の円二色性を算出する演算手段と、を備え、前記楕円偏光形成手段は、光源と、第一偏光子と、光軸を中心に迅速かつ正確に軸方位を回転できる位相子と、を含み、位相子および、その回転角度を、位相子の位相差をδ、位相子の回転角度をθとしたとき、δ・sin2θが0.1ラジアン以下になるように構成することを特徴とする円二色性測定装置。

IPC (2件)：