特許
J-GLOBAL ID:201403097816313898

ノイズ耐性評価方法およびノイズ耐性評価装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 居藤 洋之
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-057452
公開番号(公開出願番号):特開2014-182039
出願日: 2013年03月20日
公開日(公表日): 2014年09月29日
要約:
【課題】プリント基板などの電子回路を有する評価対象物に対して信頼性の高い耐性の評価試験を行うことができるノイズ耐性評価方法およびノイズ耐性評価装置を提供する。【解決手段】ノイズ耐性評価方法は、まず、作業者は、評価対象物WKが設置される設置個所周辺に存在する電磁波放出源NSから発生される電磁波ノイズを表すノイズ情報を取得する。次いで、作業者は、総合制御装置110に電磁波放出源NSが発する電磁波ノイズにおける複数の周波数の各ピーク値からなる評価用ノイズを生成するための評価用ノイズ規定情報を生成させる。次に、作業者は、評価対象物WKに対してノイズ付与体200を介して評価用ノイズを与える。次に、作業者は、評価用ノイズが与えられた評価対象物WKが発する電磁ノイズを測定して評価対象物WKの耐性を評価する。【選択図】 図3
請求項(抜粋):
電子回路を有する評価対象物に対して外部から電磁波からなる評価用ノイズを与えて前記評価対象物の耐性を評価するノイズ耐性評価方法において、 前記評価対象物が設置される設置個所の周辺に存在する電磁波放出源から発生する電磁波をノイズ情報として取得するノイズ情報取得ステップと、 前記ノイズ情報に基づく前記評価用ノイズを前記評価対象物に与える評価用ノイズ付与ステップと、 前記評価用ノイズを与えた際の前記評価対象物の挙動に関する情報を取得する挙動情報取得ステップとを含むことを特徴とするノイズ耐性評価方法。
IPC (1件):
G01R 31/30
FI (1件):
G01R31/30
Fターム (4件):
2G132AA20 ,  2G132AB10 ,  2G132AG01 ,  2G132AL11

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