流量計の校正方法

発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-011596
公開番号（公開出願番号）：特開2014-142289
出願日： 2013年01月25日
公開日（公表日）： 2014年08月07日
要約：

【課題】大流量の測定流量域を有する流量計であっても、高精度に流量計の校正を行うことができる校正方法を提供する。【解決手段】流量計を校正するための方法であって、所定の測定流量域を有する予め校正された複数の第1の流量計2を準備し、前記複数の第1の流量計2を並列に接続し、前記複数の第1の流量計2が有する測定流量域より大きい測定流量域を有する複数の第2の流量計1を準備し、前記複数の第1の流量計2より上流側、もしくは、下流側に前記複数の第2の流量計1を直列に接続し、前記第1の流量計2及び前記第2の流量計1に流れる流体の流量を、前記第1の流量計2によって測定しながら、前記複数の第2の流量計1を校正することを特徴とする流量計の校正方法。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

流量計を校正するための方法であって、所定の測定流量域を有する予め校正された複数の第1の流量計を準備し、前記複数の第1の流量計を並列に接続し、前記複数の第1の流量計が有する測定流量域より大きい測定流量域を有する複数の第2の流量計を準備し、前記複数の第1の流量計の上流側、もしくは、下流側に前記複数の第2の流量計を直列に接続し、前記第1の流量計及び前記第2の流量計に流れる流体の流量を、前記第1の流量計によって測定しながら、前記複数の第2の流量計を校正することを特徴とする流量計の校正方法。

IPC (1件)：

G01F 25/00

FI (1件)：

G01F25/00 Q

引用特許：

出願人引用 (1件)

流量計校正装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-267881 出願人：株式会社平井

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