篠原尋史

シノハラヒロフミ | Shinohara Hirofumi

所属機関・部署：
職名：特任教授

研究分野 (2件)：電子デバイス、電子機器 , 情報学基礎論

研究キーワード (5件)：ハードウェアセキュリティ , 低エネルギー回路 , SRAM , 真乱数発生器 , PUF

競争的資金等の研究課題 (2件)：

論文 (114件)：

Kunyang Liu, Yichen Tang, Shufan Xu, Ruilin Zhang, Hirofumi Shinohara. A 100-Bit-Output Modeling Attack-Resistant SPN Strong PUF with Uniform and High-Randomness Response. 2023 IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC). 2023
Kunyang Liu, Yichen Tang, Shufan Xu, Hirofumi Shinohara. V_SS-Bias-Based Measurement of Random Telegraph Noise in Hybrid SRAM PUF after Hot Carrier Injection Burn-in. 2023 35th International Conference on Microelectronic Test Structure (ICMTS). 2023
Shufan Xu, Kunyang Liu, Yichen Tang, Ruilin Zhang, Hirofumi Shinohara. Effect of Quadruple Size Transistor on SRAM Physically Unclonable Function Stabilized by Hot Carrier Injection. 2023 35th International Conference on Microelectronic Test Structure (ICMTS). 2023
Kunyang Liu, Gen Li, Zihan Fu, Xuanzhen Wang, Hirofumi Shinohara. A 2.17-pJ/b 5b-Response Attack-Resistant Strong PUF with Enhanced Statistical Performance. ESSCIRC 2022- IEEE 48th European Solid State Circuits Conference (ESSCIRC). 2022
Kunyang Liu, Kiyoshi Takeuchi, Hirofumi Shinohara. Statistical Modeling of SRAM PUF Cell Mismatch Shift Distribution After Hot Carrier Injection Burn-In. 2022 IEEE 34th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS). 2022

MISC (8件)：

水谷朋子, 竹内潔, 更屋拓哉, 篠原尋史, 小林正治, 平本俊郎. 不揮発情報一括書き込み・読み出し可能な初期値確定SRAM (集積回路). 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報. 2017. 117. 167. 49-54
水谷朋子, 竹内潔, 更屋拓哉, 篠原尋史, 小林正治, 平本俊郎. 不揮発情報一括書き込み・読み出し可能な初期値確定SRAM (情報センシング). 映像情報メディア学会技術報告 = ITE technical report. 2017. 41. 25. 49-54
篠原尋史. 0.5V動作低エネルギー回路と応用. 電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路. 2012. 112. 170. 23-28
森脇真一, 川澄篤, 鈴木利一, 山本安衛, 宮野信治, 篠原尋史, 桜井貴康. ビット線振幅量を抑えるチャージシェア階層ビット線方式を用いた0.4V動作SRAM. 電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路. 2012. 112. 15. 67-71
更田裕司, 平入孝二, 安福正, 高宮真, 野村昌弘, 篠原尋史, 桜井貴康. 低電圧動作可能なコンテンションレス・フリップフロップと2種の電源電圧による整数演算回路のエネルギー効率向上の実証(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用). 電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路. 2011. 111. 188. 127-132

書籍 (1件)：

講演・口頭発表等 (3件)：

[特別講演] A 373 F2 2D Power-Gated EE SRAM Physically Unclonable Function (PUF) with Dark-Bit Detection Technique
(信学技報 ICD 2019)
Compensation of Temperature Induced Flipping-Bits in CMOS SRAM PUF by NMOS Body-Bias
(信学技報 HWS 2018)
[招待講演] 情報セキュリティのためのランダム回路
(信学技報 ICD 2018)

学歴 (3件)：

学位 (1件)：

経歴 (6件)：

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委員歴 (2件)：

所属学会 (2件)：

IEEE , 電子情報通信学会

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篠原 尋史