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J-GLOBAL ID：201502200303526179   整理番号：15A1092825

マイクロメーターサイズ粒子の顕微分光分析を改良する新しいサンプル作製技術

Novel Sample Preparation Technique To Improve Spectromicroscopic Analyses of Micrometer-Sized Particles

著者 (8件)： HOESCHEN Carmen (Technische Univ. Muenchen, Freising-Weihenstephan, DEU) ,  HOESCHEN Till (Max-Planck-Inst. Plasmaphysik, Garching, DEU) ,  MUELLER Carsten W. (Technische Univ. Muenchen, Freising-Weihenstephan, DEU) ,  LUGMEIER Johann (Technische Univ. Muenchen, Freising-Weihenstephan, DEU) ,  ELGETI Stefan (Max-Planck-Inst. Plasmaphysik, Garching, DEU) ,  RENNERT Thilo (Technische Univ. Muenchen, Freising-Weihenstephan, DEU) ,  KOEGEL-KNABNER Ingrid (Technische Univ. Muenchen, Freising-Weihenstephan, DEU) ,  KOEGEL-KNABNER Ingrid (Technische Univ. Muenchen, Garching, DEU)
資料名： Environmental Science & Technology  (Environmental Science & Technology)
巻： 49  号： 16  ページ： 9874-9880  発行年： 2015年08月18日 
JST資料番号： B0839A  ISSN： 0013-936X  CODEN： ESTHA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 土壌および堆積物における生物地球化学的な界面で起きているマイクロスケールの過程を明らかにするために,有機-鉱物の関連性が研究されている。微細粒子の鉱物粒子はキャリアーに埋設してナノスケール二次イオン質量分光分析をしているが,樹脂に埋め込まれると望ましくない炭素不純物を発生する。トポグラフィーと炭素汚染の問題を克服したマイクロメートルサイズの1次土壌粒子の研磨した断面を作製する新しい方法を提案した。粒子はマーカー層によって被覆して,埋設して良く研磨した。データの解析は集束イオンビームにより作製した断面へのエネルギー分散X線分光分析によって支援された。断面において,1次土壌粒子上の有機群集は可視化された,この新しい方法は土壌生物地球化学的界面のより良い特性評価を可能にし,他の(分光的)顕微鏡技術による結果も良くする可能性がある。

シソーラス用語： 微粒子 ,  *顕微分光分析 ,  *試料調製 ,  キャリア ,  地球化学 ,  土粒子 ,  研磨面 ,  二次イオン質量分析 ,  土壌有機物 ,  キャラクタリゼーション ,  酸化エルビウム ,  スパッタ蒸着 ,  被覆
準シソーラス用語： NanoSIMS ,  スパッタ被覆 ,  *鉱物粒子 ,  生物地球化学 ,  保持担体

分類 (1件)： 無機物質の物理分析一般  (CC03021Q)

タイトルに関連する用語 (4件)： マイクロメーター ,  サイズ ,  顕微分光分析 ,  サンプル作製