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J-GLOBAL ID:201502201247497469   整理番号:15A0970035

ポジトロニウムを用いたシリカ系ガラスの空隙計測および空隙と物性の相関

Characterization of pores with sub-nm size in silica-based glasses by a positronium
著者 (1件):
資料名:
巻: 33  ページ: 152-157  発行年: 2015年 
JST資料番号: X0948B  ISSN: 1883-3128  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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陽電子と電子の束縛状態であるポジトロニウム(Ps)の寿命測定によりシリカ系ガラスの空隙に関する情報を得ることを目的とした。融液からの熱履歴により密度を変化させたシリカガラスでは,密度の上昇とともにPs寿命は長くなり,空隙径は大きくなる。一方,熱間等方加圧処理したシリカガラスでは,密度の上昇とともにPs寿命は短くなり,空隙径は小さくなった。これらの結果はレイリー散乱強度依存性と相関があり,空隙サイズ分布を考慮することにより考察することができた。また,網目修飾イオンを含むシリカ系ガラスにコロナ放電処理を施し,K+イオンの脱離した空隙は,シリカガラスの本来の空隙に比較して大きくなっていることが明らかとなった。(著者抄録)
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分類 (1件):
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セラミック・磁器の性質 
引用文献 (5件):

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